Soroka, V. I. (2015). Modified backscattering method of the nanometer self-supporting films and surface layers thickness measurements.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Soroka, V. I. Modified Backscattering Method of the Nanometer Self-supporting Films and Surface Layers Thickness Measurements. 2015.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Soroka, V. I. Modified Backscattering Method of the Nanometer Self-supporting Films and Surface Layers Thickness Measurements. 2015.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.