Modified backscattering method of the nanometer self-supporting films and surface layers thickness measurements
Збережено в:
| Дата: | 2015 |
|---|---|
| Автор: | V. I. Soroka |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2015
|
| Назва видання: | Nuclear physics and atomic energy |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000516847 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Influence of germanium sublayers on the structure of gold films with nanometer thickness
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2015)
Quantum-to-Classical Transition of the Charge Transfer in Films of Gold of Nanometer Thickness
за авторством: M. D. Buchkovska, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: M. D. Buchkovska, та інші
Опубліковано: (2013)
Electrical conductivity of fine-crystalline copper films of a nanometer thickness
за авторством: M. D. Buchkovska, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: M. D. Buchkovska, та інші
Опубліковано: (2013)
Thickness measurement of the stripper foil using modified nuclear-analytical method
за авторством: V. I. Soroka, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: V. I. Soroka, та інші
Опубліковано: (2015)
Measurement of thicknesses of optically transparent layered structures by the spectral interferometry method
за авторством: K. A. Lukin, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: K. A. Lukin, та інші
Опубліковано: (2017)
Application of Rutherford backscattering method for diffusion and phase formation studies in thin films of Sn – Cu system
за авторством: S. M. Voloshko, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: S. M. Voloshko, та інші
Опубліковано: (2013)
Some Features of Microwave Backscatter by Hydrodynamic Formations of Surface Objects
за авторством: Gutnik, V. G., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Gutnik, V. G., та інші
Опубліковано: (2013)
SELECTION OF SHF-BACKSCATTERING MODEL OF THE SEA SURFACE WITH REGARD TO SHADOWING
за авторством: Bukin, A. V., та інші
Опубліковано: (2023)
за авторством: Bukin, A. V., та інші
Опубліковано: (2023)
Structural and morphological properties of nanometer carbon films obtained by electron beam sputtering of graphite
за авторством: V. O. Yukhymchuk, та інші
Опубліковано: (2023)
за авторством: V. O. Yukhymchuk, та інші
Опубліковано: (2023)
Determination of surface parameters for backscattering simulation in the millimeter and centimeter wave regions
за авторством: O. V. Bukin, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: O. V. Bukin, та інші
Опубліковано: (2020)
Phase method of ultrasonic thickness measurement
за авторством: Yu. V. Kuts, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Yu. V. Kuts, та інші
Опубліковано: (2013)
Pharmacological Properties of Nanometals (Silver, Copper, Iron)
за авторством: I. S. Chekman
Опубліковано: (2015)
за авторством: I. S. Chekman
Опубліковано: (2015)
Genetic types of nanometer grains of minerals in meteorites
за авторством: V. P. Semenenko, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: V. P. Semenenko, та інші
Опубліковано: (2012)
Thick layers liquid-phase epitaxy method
за авторством: S. N. Dranchuk, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: S. N. Dranchuk, та інші
Опубліковано: (2013)
Near-to-Far Zone Transition in the Problem of Wave Backscattering by a Statistically Rough Surface
за авторством: Bryukhovetski, A. S.
Опубліковано: (2012)
за авторством: Bryukhovetski, A. S.
Опубліковано: (2012)
Electroslag surfacing of layers of different thicknesses in stationary current-supplying mould
за авторством: Ju. M. Kuskov, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Ju. M. Kuskov, та інші
Опубліковано: (2018)
Sea Radar Backscattering Intensity for Small Grazing Angles
за авторством: Gutnik, V. G., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Gutnik, V. G., та інші
Опубліковано: (2013)
Effect of technological schemes of induction surfacing on stability of deposited layer thickness
за авторством: Ch. V. Pulka, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Ch. V. Pulka, та інші
Опубліковано: (2013)
A strain state in synthetic diamond crystals by the data of electron backscatter diffraction method
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2016)
Cavitation resistance of modified surface layers of alloyed steels
за авторством: V. H. Marynin
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. H. Marynin
Опубліковано: (2010)
Quasi-Vertical Radar Sensing of Finitely Thick Surfactant Films on the Sea Surface
за авторством: Boev, A. G., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Boev, A. G., та інші
Опубліковано: (2012)
Structure and surface morphology of mercury modified selenium thin films
за авторством: Рубіш, В. М., та інші
Опубліковано: (2023)
за авторством: Рубіш, В. М., та інші
Опубліковано: (2023)
Method of multiparametral eddy current measurements of thickness, electric conductivity of material and thickness of dielectric coating of structural elements
за авторством: Ja. Teterko, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Ja. Teterko, та інші
Опубліковано: (2014)
The experience of improvement of the thick-film technology
за авторством: L. I. Panov, та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: L. I. Panov, та інші
Опубліковано: (2002)
Determination of the distorted surface layer thickness in machined optically transparent polymer articles
за авторством: Khlapova, N.P., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Khlapova, N.P., та інші
Опубліковано: (2004)
Surface layers and thickness dependences of the thermoelectric properties of the steam-phase condensates of the last on the sieve
за авторством: D. M. Freik, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: D. M. Freik, та інші
Опубліковано: (2015)
Surface plasmon polaritons in dielectric/metal/dielectric structures: metal layer thickness influence
за авторством: P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2019)
Spike Statistics of Sea Backscattering at Centimeter and Millimeter Bands of Radio Waves
за авторством: Gutnik, V. G., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Gutnik, V. G., та інші
Опубліковано: (2013)
Morphology of surface and fine structure of thick carbon films, produced by electron beam evaporation of carbon
за авторством: Ju. A. Kurapov, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Ju. A. Kurapov, та інші
Опубліковано: (2017)
Effects of carbonization of filaments on CVD diamond thick films prepared by HFCVD method
за авторством: Fuming Deng, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: Fuming Deng, та інші
Опубліковано: (2020)
Effect of extrusion modifiers of coating mass on variation of electrode coating thickness
за авторством: A. E. Marchenko, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: A. E. Marchenko, та інші
Опубліковано: (2019)
Magnetic method for determination of the thickness of protective concrete layer and diameter of rebars of building structures
за авторством: A. P. Gusev, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: A. P. Gusev, та інші
Опубліковано: (2017)
Effect of the film thickness on the effective electron-electron interaction in a metal film
за авторством: P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2018)
Technological features of thick-film electric heating elements
за авторством: Ye. Ya. Telnikov, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: Ye. Ya. Telnikov, та інші
Опубліковано: (2020)
Influence of Depletion Transition Layers on Surface Polaritons in Semiconductor Films
за авторством: Beletskij, N. N., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Beletskij, N. N., та інші
Опубліковано: (2012)
ANALYSIS OF THE DEPENDENCE OF THE BOILER'S ENERGY EFFICIENCY ON THE SOOT LAYER THICKNESS DEPOSITED ON ITS HEAT EXCHANGE SURFACE
за авторством: Surzhyk , O.
Опубліковано: (2025)
за авторством: Surzhyk , O.
Опубліковано: (2025)
Indentation from macro- to nanometer level and examples of investigation of properties of materials with a special structure
за авторством: Ju. A. Khokhlova, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Ju. A. Khokhlova, та інші
Опубліковано: (2017)
Acoustic emission of Zr–1% Nb alloy with modified surface layer under tension
за авторством: V. S. Trush, та інші
Опубліковано: (2024)
за авторством: V. S. Trush, та інші
Опубліковано: (2024)
Dependence of electrical conductivity on Bi₂Se₃ thin film thickness
за авторством: Menshikova, S.I., та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Menshikova, S.I., та інші
Опубліковано: (2017)
Self-organization of magnetic nanostructures on the surface of layers of layered In2Se3 crystals intercalated with cobalt
за авторством: A. P. Bakhtinov, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: A. P. Bakhtinov, та інші
Опубліковано: (2013)
Схожі ресурси
-
Influence of germanium sublayers on the structure of gold films with nanometer thickness
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2015) -
Quantum-to-Classical Transition of the Charge Transfer in Films of Gold of Nanometer Thickness
за авторством: M. D. Buchkovska, та інші
Опубліковано: (2013) -
Electrical conductivity of fine-crystalline copper films of a nanometer thickness
за авторством: M. D. Buchkovska, та інші
Опубліковано: (2013) -
Thickness measurement of the stripper foil using modified nuclear-analytical method
за авторством: V. I. Soroka, та інші
Опубліковано: (2015) -
Measurement of thicknesses of optically transparent layered structures by the spectral interferometry method
за авторством: K. A. Lukin, та інші
Опубліковано: (2017)