Modified backscattering method of the nanometer self-supporting films and surface layers thickness measurements
Збережено в:
| Дата: | 2015 |
|---|---|
| Автор: | V. I. Soroka |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
2015
|
| Назва видання: | Nuclear physics and atomic energy |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000516847 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Influence of germanium sublayers on the structure of gold films with nanometer thickness
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2015) -
Quantum-to-Classical Transition of the Charge Transfer in Films of Gold of Nanometer Thickness
за авторством: M. D. Buchkovska, та інші
Опубліковано: (2013) -
Electrical conductivity of fine-crystalline copper films of a nanometer thickness
за авторством: M. D. Buchkovska, та інші
Опубліковано: (2013) -
Thickness measurement of the stripper foil using modified nuclear-analytical method
за авторством: V. I. Soroka, та інші
Опубліковано: (2015) -
Self-assembled metallic nanoparticle template — a new approach of surface nanostructuring at nanometer scale
за авторством: Taleb, A., та інші
Опубліковано: (2017)