$Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Low-Energy Electron Diffraction Investigations of GaTe Layered Crystal Cleavage Surface$

Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Low-Energy Electron Diffraction Investigations of GaTe Layered Crystal Cleavage Surface

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2015
Автори:	P. Galiy, T. Nenchuk, A. Ciszewski, P. Mazur, S. Zuber, I. Yarovets
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	2015
Назва видання:	Metallophysics and advanced technologies
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000551438
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Low-Energy Electron Diffraction Investigations of GaTe Layered Crystal Cleavage Surface
за авторством: Galiy, P., та інші
Опубліковано: (2015)

Indium induced nanostructures on In₄Se₃(100) surface studied by scanning tunneling microscopy
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2013)

Scanning-tunneling microscopy/spectroscopy and break-junction tunneling spectroscopy of FeSe₁–xTex
за авторством: Ekino, T., та інші
Опубліковано: (2013)

Scanning-tunneling microscopy/spectroscopy and break-junction tunneling spectroscopy of FeSe1-xTex
за авторством: T. Ekino, та інші
Опубліковано: (2013)

Low-energy-electron-diffraction structural studies of (100) cleavage surfaces of In4Se3 layered crystals
за авторством: P. V. Galiy, та інші
Опубліковано: (2014)

Spatial resolution of scanning tunneling microscopy
за авторством: Rozouvan, T., та інші
Опубліковано: (2015)

New directions in point-contact spectroscopy based on scanning tunneling microscopy techniques (Review Article)
за авторством: Tartaglini, E., та інші
Опубліковано: (2013)

Low-energy-electron-diffraction structural studies of (100) cleavage surfaces of In4Se3 layered crystals
за авторством: P. V. Halii, та інші
Опубліковано: (2014)

Atomic structures and nanoscale electronic states on the surface of MgB2 superconductor observed by scanning tunneling microscopy and spectroscopy
за авторством: A. Sugimoto, та інші
Опубліковано: (2019)

Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 Ч 8) nanostructured surface
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)

Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 Ч 8) nanostructured surface
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)

X-ray photoelectron spectroscopy of the interface formation on cleavage surfaces of the layered semiconductor In₄Se₃ crystals
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Study of phase transformations in silicon by scanning tunneling spectroscopy and nanoindentation
за авторством: O. G. Lysenko, та інші
Опубліковано: (2013)

The possibility to determine a constant of spin-orbit interaction by scanning tunneling microscopy method
за авторством: N. V. Khotkevich, та інші
Опубліковано: (2016)

Study of nanostructured layers of single-crystal silicon by scanning tunnel spectroscopy
за авторством: Kulyk, S.P., та інші
Опубліковано: (2008)

Study of Structural-Relaxation Processes on Surface of Amorphous Fe77Si8B15 Alloy by the Methods of Scanning Tunnelling Microscopy and Spectroscopy
за авторством: V. L. Karbovskij, та інші
Опубліковано: (2012)

A suggestion of the graphene/Ge(111) structure based on ultra-high vacuum scanning tunneling microscopy investigation
за авторством: A. Horiachko, та інші
Опубліковано: (2016)

A suggestion of the graphene/Ge(111) structure based on ultra-high vacuum scanning tunneling microscopy investigation
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2016)

The peculiarities of nickel nanostructures formed on interlayer (0001) cleavage surfaces of NikhInSe intercalates
за авторством: P. V. Halii, та інші
Опубліковано: (2018)

Electroreflectance spectroscopy and scanning electron microscopy study of microrelief silicon wafers with various surface pretreatments
за авторством: Gorbach, T.Ya., та інші
Опубліковано: (1998)

Phase formation in surface layers of GaTe and InTe single crystals during thermal oxidation in air
за авторством: Balitskii, O.A., та інші
Опубліковано: (2004)

Structural and energy changes at the cleavage surfaces of In₄Se₃ layered crystals under interface formation
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2008)

IR-spectroscopy and AFM-microscopy of the surface of gamma-irradiated GaS and GaS:Yb layered single crystals
за авторством: Pashayev, A.M., та інші
Опубліковано: (2019)

New features of the Ge(111) surface with coexisting s(2Ч8) and 2Ч2 reconstructions investigated by scanning tunneling microscopy
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)

New features of the Ge(111) surface with coexisting s(2Ч8) and 2Ч2 reconstructions investigated by scanning tunneling microscopy
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)

Формирование гетероструктур GaTe/CdSe для использования в солнечных элементах
за авторством: Балицкий, А.А.
Опубліковано: (2005)

New materials for luminescent scanning near-field microscopy
за авторством: Chornii, V., та інші
Опубліковано: (2013)

Laser scanning microscopy of HTS films and devices (Review Article)
за авторством: Zhuravel, A.P., та інші
Опубліковано: (2006)

Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
за авторством: A. N. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)

Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
за авторством: H. M. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)

In situ scanning electron microscopy study of fatigue crack propagation
за авторством: Jacobsson, L., та інші
Опубліковано: (2008)

Scanning near-field optical microscopy of magnetic structures in magnetic films
за авторством: Belotelov, V.I., та інші
Опубліковано: (2004)

Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging
за авторством: G. V. Beketov
Опубліковано: (2011)

Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging
за авторством: Beketov, G.V.
Опубліковано: (2011)

Structural Aspect of Formation of a Nanosystem of In/In₄Se₃ (100)
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2018)

Исследование гетеронаносистем металл–полупроводник NixInSe (0001)
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2017)

Investigation of Ag2O–B2O3-system glass by means of the method of scanning tunnelling microscopy with semicon-ducting diamond tip
за авторством: M. A. Tsysar
Опубліковано: (2012)

Microanalysis of magnetic structure of yttrium-iron garnet films by scanning probe microscopy methods
за авторством: O. I. Synhaivska, та інші
Опубліковано: (2016)

Studies of topological features of the surface relief formation of titanium nitride films on silicon substrates during the diffusion mass transfer and on annealing using scanning tunneling microscopy
за авторством: M. A. Tsysar
Опубліковано: (2013)

STM data: Gold Nanoreliefs on Van der Waals Surfaces of InSe Semiconductor Single Crystals Obtained by High-Resolution Scanning Tunneling Microscopy Methods
за авторством: Karbivskyy Volodymyr, та інші
Опубліковано: (2024)