Investigation of strength of multi-layer structures of transparent dielectrics by optical methods
Збережено в:
| Дата: | 2015 |
|---|---|
| Автори: | Yu. A. Rudiak, M. I. Pidhurskyi |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
2015
|
| Назва видання: | Materials Science (Physicochemical mechanics of materials) |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000662974 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Measurement of thicknesses of optically transparent layered structures by the spectral interferometry method
за авторством: K. A. Lukin, та інші
Опубліковано: (2017) -
Production and investigation of Cu/thin intermediate tunnel-transparent dielectric oxide layer/n-Pb₀.₉₃₅Sn₀.₀₆₅Te₀.₂₄₃Se₀.₇₅₇/In Schottky barrier structures
за авторством: Tkachuk, A.I., та інші
Опубліковано: (2002) -
Determination of the distorted surface layer thickness in machined optically transparent polymer articles
за авторством: Khlapova, N.P., та інші
Опубліковано: (2004) -
Investigation fracture of an orthotropic plate with a circular hole and two edge cracks by the method of dynamic elasticity
за авторством: M. P. Malezhyk, та інші
Опубліковано: (2019) -
Optical properties of dielectric layers with CeO₂
за авторством: Semikina, T.V.
Опубліковано: (2004)