Efremov, A. A., Litovchenko, V. G., Melnik, V. P., Oberemok, O. S., Popov, V. G., & Romanyuk, B. M. (2015). Dopant depth profile modification during mass Spectrometric analysis of multilayer nanostructures.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Efremov, A. A., V. G. Litovchenko, V. P. Melnik, O. S. Oberemok, V. G. Popov, та B. M. Romanyuk. Dopant Depth Profile Modification During Mass Spectrometric Analysis of Multilayer Nanostructures. 2015.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Efremov, A. A., et al. Dopant Depth Profile Modification During Mass Spectrometric Analysis of Multilayer Nanostructures. 2015.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.