Buchumschlag

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Datum:	2021
Hauptverfasser:	K. M. Al-Adamat, H. M. El-Nasser
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2021
Schriftenreihe:	Ukrainian journal of physics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001276409
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Institution

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Ähnliche Einträge

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry
von: K. M. Al-Adamat, et al.
Veröffentlicht: (2021)

Optical characterization of thin Au films by standard and polaritonic ellipsometry
von: Dmitruk, N.L., et al.
Veröffentlicht: (2003)

Characterization of second-order bands in Raman scattering spectra of lead phthalocyanine thin films
von: Gorishnyi, M.P., et al.
Veröffentlicht: (2021)

Origin of surface layer on common substrates for functional material films probed by ellipsometry
von: Belyaeva, A.I., et al.
Veröffentlicht: (2003)

Magnetic anisotropy in Fe phthalocyanine film deposited on Si(110) substrate: standing configuration
von: Bartolomé, J., et al.
Veröffentlicht: (2017)

Magnetic anisotropy in Fe phthalocyanine film deposited on Si(110) substrate: standing configuration
von: J. Bartolomй, et al.
Veröffentlicht: (2017)

Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry
von: Odarych, V.A., et al.
Veröffentlicht: (2006)

Scanning Acoustic Microscopy of Annealing Effects for Aluminium Thin Film Deposited on Silicon Substrate
von: Chafia Atailia, et al.
Veröffentlicht: (2018)

Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate
von: Odarych, V.A., et al.
Veröffentlicht: (2005)

Дослідження тонких плівок фталоцианінів кобальту на кремнієвих підкладинках методом спектроскопічної еліпсометрії
von: Al-Adamat, K.M., et al.
Veröffentlicht: (2021)

IR spectroscopic study of thin ZnO films grown using the atomic layer deposition method
von: Ye. F. Venher, et al.
Veröffentlicht: (2016)

IR Spectroscopic Study of Thin ZnO Films Grown Using the Atomic Layer Deposition Method
von: E. F. Venger, et al.
Veröffentlicht: (2016)

Characterization of nanoscaled films on flat and grating substrates as some elements of plasmonics
von: Dmitruk, N.L., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Nature and kinetics of non-stationary light absorption induced by femtosecond laser pulses in lead phthalocyanine and chloro-aluminum-chloro-phthalocyanine films
von: M. P. Gorishnyi
Veröffentlicht: (2013)

Nature and kinetics of non-stationary light absorption induced by femtosecond laser pulses in lead phthalocyanine and chloro-aluminum-chloro-phthalocyanine films
von: M. P. Horishnyi
Veröffentlicht: (2013)

Detection of interaction between the nanoparticles on surface using ellipsometry
von: T. A. Mishakova, et al.
Veröffentlicht: (2011)

Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
von: Yampolskiy, A.L., et al.
Veröffentlicht: (2018)

Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films
von: H. H. Amer, et al.
Veröffentlicht: (2011)

Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films
von: Amer, H.H., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Effect of microwave electromagnetic radiation on the structure, photoluminescence and electronic properties of nanocrystalline silicon films on silicon substrate
von: Kaganovich, E.B., et al.
Veröffentlicht: (2003)

Sensing to gases of structures silicide cobalt-porous silicon-silicon
von: I. V. Belousov, et al.
Veröffentlicht: (2006)

Thin polyaniline films on a polyethylene terephthalate substrate as Cr(VI) adsorbents
von: Yu. Stetsiv, et al.
Veröffentlicht: (2021)

Effect of substrate temperature on structural and substructural properties of MgO thin films
von: Diachenko, O.V., et al.
Veröffentlicht: (2015)

Spatial characterization of the edge barrier in wide superconducting thin films
von: A. G. Sivakov, et al.
Veröffentlicht: (2018)

Optoelectronic properties of hydrogenated amorphous silicon–carbon and nanocrystalline-silicon thin films
von: B. A. Najafov, et al.
Veröffentlicht: (2013)

Optoelectronic properties of hydrogenated amorphous silicon–carbon and nanocrystalline-silicon thin films
von: B. A. Nadzhafov, et al.
Veröffentlicht: (2013)

Doping by silicon and photovoltaic properties of thin thulium sesquisulfide films
von: Z. U. Dzhabua, et al.
Veröffentlicht: (2014)

Affects deposition time and substrate temperature on optical properties of ZnO thin film
von: A. D. Pogrebnyak, et al.
Veröffentlicht: (2011)

Affects deposition time and substrate temperature on optical properties of ZnO thin film
von: Pogrebnyak, A.D., et al.
Veröffentlicht: (2011)

SYNTHESIS, X-RAY CRYSTAL STRUCTURE, SPECTROSCOPIC CHARACTERIZATION AND HIRSHFELD SURFACE ANALYSIS OF DICHLORO-BIS(3,5-DIMETHYL-4-AMINO-1H-PYRAZOLE) COBALT(II)
von: Davydenko , Yuliya, et al.
Veröffentlicht: (2022)

Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix
von: V. V. Voitovych, et al.
Veröffentlicht: (2016)

Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix
von: V. V. Voitovych, et al.
Veröffentlicht: (2016)

Behavior of hydrogen during crystallization of thin silicon films doped with tin
von: R. M. Rudenko, et al.
Veröffentlicht: (2013)

Behavior of hydrogen during crystallization of thin silicon films doped with tin
von: R. M. Rudenko, et al.
Veröffentlicht: (2013)

Hydrogen plasma treatment of silicon thin-film structures and nanostructured layers
von: Nazarov, A.N., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Morphologic and optical characterization of ZnO:Co thin films grown by PLD
von: M. V. Vuichyk, et al.
Veröffentlicht: (2014)

Influence of deposition rate and substrate temperature on structure and optical features of NiO thin film
von: Oberemok, O.S., et al.
Veröffentlicht: (2016)

Morphologic and optical characterization of ZnO:Co thin films grown by PLD
von: Vuichyk, M.V., et al.
Veröffentlicht: (2014)

Thin dysprosium oxide films formed by rapid thermal annealing on porous SiC substrates
von: Yu. Yu. Bacherikov, et al.
Veröffentlicht: (2018)

Thin dysprosium oxide films formed by rapid thermal annealing on porous SiC substrates
von: Bacherikov, Yu.Yu., et al.
Veröffentlicht: (2018)