Koman, B. P., Rovetskyi, I. M., & Yuzevych, V. M. (2015). AFM Study of Surface of the Metallic Condensates on the Monocrystalline Silicon and Energy Parameters of Interface Interactions in the ‘Metallic Condensate—Semiconductor' System.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Koman, B. P., I. M. Rovetskyi, та V. M. Yuzevych. AFM Study of Surface of the Metallic Condensates on the Monocrystalline Silicon and Energy Parameters of Interface Interactions in the ‘Metallic Condensate—Semiconductor' System. 2015.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Koman, B. P., et al. AFM Study of Surface of the Metallic Condensates on the Monocrystalline Silicon and Energy Parameters of Interface Interactions in the ‘Metallic Condensate—Semiconductor' System. 2015.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.