Зображення обкладинки

Variation of optical parameters of multilayer structures with thin silicon layers at laser annealing

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2014
Автор:	O. B. Okhrimenko
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2014
Назва видання:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000352790
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Variation of optical parameters of multilayer structures with thin silicon layers at laser annealing
за авторством: Okhrimenko, O.B.
Опубліковано: (2014)

Optical properties of thin erbium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC substrates with different structures
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2017)

Optical properties of thin erbium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC substrates with different structures
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2017)

Structural transformation in C/Si multilayer after annealing
за авторством: I. O. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2012)

Structural transformation in C/Si multilayer after annealing
за авторством: Zhuravel, I.O., та інші
Опубліковано: (2012)

Optical studies of as-deposited and annealed Cu₇GeS₅I thin films
за авторством: Studenyak, I.P., та інші
Опубліковано: (2016)

Influence of high temperature annealing on the structure and the intrinsic absorption edge of thin-film silicon doped with tin
за авторством: R. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Influence of high temperature annealing on the structure and the intrinsic absorption edge of thin-film silicon doped with tin
за авторством: R. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Optical parameters of As-deposited and annealed (Ga0.3In0.7)2Se3 thin films
за авторством: M. Pop, та інші
Опубліковано: (2021)

Optical parameters of As-deposited and annealed (Ga0.3In0.7)2Se3 thin films
за авторством: M. Pop, та інші
Опубліковано: (2021)

The impact of low temperature thermal annealing on optical properties of thin composite films
за авторством: Gorbov, I. V., та інші
Опубліковано: (2014)

Hydrogen plasma treatment of silicon thin-film structures and nanostructured layers
за авторством: Nazarov, A.N., та інші
Опубліковано: (2008)

Structural transformation in Zr/Mg multilayer on Si substrate after annealing
за авторством: Konotopsky, L.E., та інші
Опубліковано: (2017)

Structural transformation in Zr/Mg multilayer on Si substrate after annealing
за авторством: Konotopsky, L.E., та інші
Опубліковано: (2018)

Scanning Acoustic Microscopy of Annealing Effects for Aluminium Thin Film Deposited on Silicon Substrate
за авторством: Chafia Atailia, та інші
Опубліковано: (2018)

Effect of buffer layer of porous silicon carbide on the interface with the oxide layer (review)
за авторством: O. B. Okhrimenko
Опубліковано: (2012)

Optical studies of as-deposited and annealed Cu7GeS5I thin films
за авторством: I. P. Studenyak, та інші
Опубліковано: (2016)

Enhancing parameters of silicon varactors using laser gettering
за авторством: I. M. Vikulin, та інші
Опубліковано: (2018)

Enhancing parameters of silicon varactors using laser gettering
за авторством: Vikulin, I.M., та інші
Опубліковано: (2018)

Influence of laser light on the formation and properties of silicon nanocrystals in a-Si/Sn layered structures
за авторством: V. B. Neimash, та інші
Опубліковано: (2019)

Influence of laser light on the formation and properties of silicon nanocrystals in a-Si/Sn layered structures
за авторством: V. B. Neimash, та інші
Опубліковано: (2019)

Formation of silicon nanoclusters in buried ultra-thin oxide layers
за авторством: Oberemok, O.S., та інші
Опубліковано: (2011)

Formation of silicon nanoclusters in buried ultra-thin oxide layers
за авторством: O. S. Oberemok, та інші
Опубліковано: (2011)

Hydrogen gettering in annealed oxygen-implanted silicon
за авторством: A. Misiuk, та інші
Опубліковано: (2010)

Hydrogen gettering in annealed oxygen-implanted silicon
за авторством: Misiuk, A., та інші
Опубліковано: (2010)

Polarization-singular structure in laser images of phase-inhomogeneous layers to diagnose and classify their optical properties
за авторством: Ushenko, Yu.O., та інші
Опубліковано: (2010)

Polarization-singular structure in laser images of phase-inhomogeneous layers to diagnose and classify their optical properties
за авторством: Yu. O. Ushenko, та інші
Опубліковано: (2010)

Optical properties of thin films of titanium with transient layers on them
за авторством: V. V. Lendel, та інші
Опубліковано: (2010)

Optical properties of thin films of titanium with transient layers on them
за авторством: Lendel, V.V., та інші
Опубліковано: (2010)

Temperature and laser annealing of nonstoichiometric SiOx films
за авторством: O. O. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Optical recording of information pits in thin layers of chalcogenide semiconductors
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2004)

Development and optical characteristics of the macroporous silicon structures
за авторством: Karachevtseva, L.A., та інші
Опубліковано: (2000)

Explore optimal parameters three-layer optical structures at an angle of incidence of the light
за авторством: O. V. Mitsa, та інші
Опубліковано: (2014)

Pressure-induced transformations during annealing of silicon implanted with oxygen
за авторством: Misiuk, A., та інші
Опубліковано: (2006)

Optical absorption and refractive properties of annealed thin films of Cu6PS5I superionic conductor
за авторством: I. P. Studeniak, та інші
Опубліковано: (2012)

Thin dysprosium oxide films formed by rapid thermal annealing on porous SiC substrates
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2018)

Thin dysprosium oxide films formed by rapid thermal annealing on porous SiC substrates
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)

Laser-stimulated phase transformations in thin SiOx and CNx–Ni layers
за авторством: L. L. Fedorenko, та інші
Опубліковано: (2018)

Measurement of the Laser Impulse Parameters of Gauss Beam with Thin-Wire Bolometers
за авторством: Kuzmichov, V. M., та інші
Опубліковано: (2013)

Temperature studies of optical parameters in (Ag₃AsS₃)₀.₆(As₂S₃)₀.₄ thin films
за авторством: Studenyak, I.P., та інші
Опубліковано: (2015)