Rengevych, O. V., Beketov, G. V., & Ushenin, Y. V. (2014). Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Rengevych, O. V., G. V. Beketov, та Yu. V. Ushenin. Visualization of Submicron Si-rods by SPR-enhanced Total Internal Reflection Microscopy. 2014.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Rengevych, O. V., et al. Visualization of Submicron Si-rods by SPR-enhanced Total Internal Reflection Microscopy. 2014.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.