Зображення обкладинки

Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2014
Автори:	O. V. Rengevych, G. V. Beketov, Yu. V. Ushenin
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2014
Назва видання:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000353047
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy
за авторством: Rengevych, O.V., та інші
Опубліковано: (2014)

Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging
за авторством: G. V. Beketov
Опубліковано: (2011)

Enhancing sensitivity of SPR sensors using nanostructured Au chips coated with functional plasma polymer nanofilms
за авторством: I. Z. Indutnyi, та інші
Опубліковано: (2017)

Enhancing sensitivity of SPR sensors using nanostructured Au chips coated with functional plasma polymer nanofilms
за авторством: Indutnyi, I.Z., та інші
Опубліковано: (2017)

Peculiarities of charge carriers transport in submicron Si-Ge whiskers
за авторством: Druzhinin, A.A., та інші
Опубліковано: (2014)

ACHIEVEMENTS IN PHYSICAL CHEMISTRY IN THE FIELD OF MICROSCOPY AND VISUALIZATION OF NANOSYSTEMS
за авторством: Ogenko, Volodymyr
Опубліковано: (2023)

The four-fase straight view total internal reflect spectral prism-polarizer
за авторством: Yu. A. Nestryzhenko
Опубліковано: (2015)

Nanopatterning Au chips for SPR refractometer by using interference lithography and chalcogenide photoresist
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2015)

Nanopatterning Au chips for SPR refractometer by using interference lithography and chalcogenide photoresist
за авторством: Dan’ko, V.A., та інші
Опубліковано: (2015)

SPR-spectroscopy of protein molecules adsorbed in microwave field
за авторством: Berezhinsky, L.I., та інші
Опубліковано: (2001)

SPR investigations of the formation of intermediate layer of the immunosensor bioselective element based on the recombinant Staphylococcal protein A
за авторством: A. E. Rachkov, та інші
Опубліковано: (2015)

SPR investigations of the formation of intermediate layer of the immunosensor bioselective element based on the recombinant Staphylococcal protein A
за авторством: Rachkov, A.E., та інші
Опубліковано: (2015)

Submicron-layered composite coatings TiN-CrN on the steel
за авторством: A. A. Andreev, та інші
Опубліковано: (2005)

Optical properties of submicron silicon oxide films after high-temperature processing
за авторством: V. V. Litvinenko, та інші
Опубліковано: (2011)

Facility for hydrogenation and thermal testing of internally pressurized dummy fuel rods
за авторством: Dolgiy, V.A., та інші
Опубліковано: (2020)

Effect of electron-beam treatment of sensor glass substrates for SPR devices on their metrological characteristics
за авторством: V. A. Vashchenko, та інші
Опубліковано: (2019)

Effect of electron-beam treatment of sensor glass substrates for SPR devices on their metrological characteristics
за авторством: Vashchenko, V.A., та інші
Опубліковано: (2019)

Nickel-induced enhancement of photoluminescence in nc-Si–SiOx nanostructures
за авторством: Michailovska, K.V., та інші
Опубліковано: (2014)

Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 Ч 8) nanostructured surface
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)

Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 Ч 8) nanostructured surface
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)

Separate determination of thickness and optical parameters by surface plasmon resonance: accuracy consideration
за авторством: Rengevych, O.V., та інші
Опубліковано: (1999)

Determination of surface parameters of solids by methods of X-ray total external reflection
за авторством: Balovsyak, S.V., та інші
Опубліковано: (2003)

Production of submicron Al₂O₃ powders by electrochemical dissolution of aluminum in the presence of nitric acid
за авторством: Balabanov, S.S., та інші
Опубліковано: (2018)

Radiation damages and self-sputtering of high-radioactive dielectrics: spontaneous emission of submicronic dust particles
за авторством: Baryakhtar, V., та інші
Опубліковано: (2002)

Nickel-induced enhancement of photo-luminescence in nc-Si-SiOx nanostructures
за авторством: K. V. Michailovska, та інші
Опубліковано: (2014)

Amorphous submicron layer in depletion region: new approach to increase the silicon solar cell efficiency
за авторством: A. V. Kozinetz, та інші
Опубліковано: (2018)

Amorphous submicron layer in depletion region: new approach to increase the silicon solar cell efficiency
за авторством: A. V. Kozinetz, та інші
Опубліковано: (2018)

Laser-stimulated enhancement of the reflectance of single-crystalline n-GaAs(100)
за авторством: P. O. Hentsar, та інші
Опубліковано: (2017)

Laser-stimulated enhancement of the reflectance of single-crystalline n-GaAs(100)
за авторством: P. O. Gentsar, та інші
Опубліковано: (2017)

Total energy, equation of states and bulk modulus of Si and Ge
за авторством: Jivani, A.R., та інші
Опубліковано: (2002)

Formation of submicron periodic plasmon structures of large area by using the interference lithography method with vacuum photoresists
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2015)

Elucidation of conditions for excitation of surface polaritons in Mg0.2Zn0.8O ceramics using the disturbed total internal reflection method
за авторством: O. V. Melnychuk, та інші
Опубліковано: (2022)

The effect of doping methods on electrical properties and micromorphology of polysilicon gate electrode in submicron CMOS devices
за авторством: Ahmad, I., та інші
Опубліковано: (2002)

Development stages for small section and rod mills and casting-rolling aggregate for small section and wire rod production
за авторством: Ju. V. Konovalov, та інші
Опубліковано: (2015)

Elucidation of conditions for excitation of surface polaritons in Mg0.2Zn0.8O ceramics using the disturbed total internal reflection method
за авторством: O. Melnichuk, та інші
Опубліковано: (2022)

Correlation optical microscopy of anisotropic biological layers
за авторством: A. G. Ushenko, та інші
Опубліковано: (2017)

Analysis of the efficiency of blanket cutting methods in the production of small rolled rods in rods
за авторством: Yu. Kuzmenko, та інші
Опубліковано: (2022)

Effect of low-temperature treatments on photoluminescence enhancement of ion-beam synthesized Si nanocrystals in SiO₂ matrix
за авторством: Khatsevich, I., та інші
Опубліковано: (2008)

Distortion compensation technique for high resolution microscopy
за авторством: Borovytsky, V.N.
Опубліковано: (2003)

Depairing critical currents and self-magnetic field effects in submicron YBa₂Cu₃O₇₋δ microbridges and bicrystal junctions
за авторством: Ivanov, Z.G., та інші
Опубліковано: (2004)