Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy

Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2014
Hauptverfasser:	O. V. Rengevych, G. V. Beketov, Yu. V. Ushenin
Format:	Artikel
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2014
Schriftenreihe:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000353047
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