Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy
Збережено в:
| Дата: | 2014 |
|---|---|
| Автори: | O. V. Rengevych, G. V. Beketov, Yu. V. Ushenin |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
2014
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000353047 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy
за авторством: Rengevych, O.V., та інші
Опубліковано: (2014) -
Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging
за авторством: G. V. Beketov
Опубліковано: (2011) -
Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging
за авторством: Beketov, G.V.
Опубліковано: (2011) -
Enhancing sensitivity of SPR sensors using nanostructured Au chips coated with functional plasma polymer nanofilms
за авторством: I. Z. Indutnyi, та інші
Опубліковано: (2017) -
ACHIEVEMENTS IN PHYSICAL CHEMISTRY IN THE FIELD OF MICROSCOPY AND VISUALIZATION OF NANOSYSTEMS
за авторством: Ogenko, Volodymyr
Опубліковано: (2023)