Photostimulated reversible changes in the Ge-Se films as a base of resistive process

Photostimulated reversible changes in the Ge-Se films as a base of resistive process

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2014
Автори:	I. V. Babiichuk, V. A. Danko, I. Z. Indutnyi, M. V. Lukaniuk, V. I. Mynko, Ye. Shepeliavyi
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	2014
Назва видання:	Optoelectronics and Semiconductor Technique
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000363504
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Photolithography on photostimulated reversible and transient structural changes in CHG
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2015)

Photostimulated etching of germanium chalcogenide films
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2012)

Photostimulated etching of germanium chalcogenide films
за авторством: Dan’ko, V.A., та інші
Опубліковано: (2012)

Photoinduced etching of thin films of chalcogenide glasses
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2012)

Photo- and thermally-induced changes in the optical properties of Ge-S-Se amorphous films
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2013)

Photo- and thermally-induced changes in the optical properties of Ge-S-Se amorphous films
за авторством: Rubish, V.M., та інші
Опубліковано: (2013)

Optical Recording of Micro- and Nano- Relief Structures on Inorganic Resists Ge-Se
за авторством: Indutny, I. Z., та інші
Опубліковано: (2013)

Features of mechanical scanning probe lithography on graphene oxide and As(Ge)Se chalcogenide resist
за авторством: P. M. Lytvyn, та інші
Опубліковано: (2018)

Reversible photodarkening in composite As2S3/SiOx nanostructures
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2011)

Optical properties and structure of As-Ge-Se thin films
за авторством: I. D. Tolmachov, та інші
Опубліковано: (2010)

Optical properties and structure of As-Ge-Se thin films
за авторством: Tolmachov, I.D., та інші
Опубліковано: (2010)

Cryogenic resistance thermometers based on Ge–InP films
за авторством: V. F. Mitin, та інші
Опубліковано: (2020)

Photostimulated Ga diffusion in zinc sulfide
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2004)

Relaxation of photodarkening in SiO-As₂(S,Se)₃ composite layers
за авторством: Indutnyi, I.Z., та інші
Опубліковано: (1999)

Quantitative parameters of stochastically inhomogeneous structure of amorphous films of Ge–Se system
за авторством: Yu. Bobyk, та інші
Опубліковано: (2013)

The formation mechanism of modified thin-film structures based on Ge-Se(S) systems and its influence on physical properties
за авторством: Horvat, G.T., та інші
Опубліковано: (2007)

Photostimulated passivation of spectrometric CdZnTe detectors
за авторством: Zagoruiko, Yu.A., та інші
Опубліковано: (2008)

Laser ablation and photostimulated passivation of Cd₁₋ₓZnₓTe crystals
за авторством: Zagoruiko, Yu.A., та інші
Опубліковано: (2012)

Dielectric relaxation in Se₈₀Ge₂₀ and Se₇₅Ge₂₀Ag₅ chalcogenide glasses
за авторством: Dwivedi, A., та інші
Опубліковано: (2005)

Control of plasmons excitation by P- and S-polarized light in gold nanowire gratings by azimuthal angle variation
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2019)

Nanostructured Au chips with enhanced sensitivity for sensors based on surface plasmon resonance
за авторством: I. Z. Indutnyi, та інші
Опубліковано: (2017)

Nanostructured Au chips with enhanced sensitivity for sensors based on surface plasmon resonance
за авторством: I. Z. Indutnyi, та інші
Опубліковано: (2017)

Structure and physical characteristics of ohmic contacts based on Fe and Ge films
за авторством: Vlasenko, О.V., та інші
Опубліковано: (2014)

Charge transition phenomena in the heterostructure crystalline Si-Bi-amorphous film Ge₃₃As₁₂Se₅₅
за авторством: Kondrat, O., та інші
Опубліковано: (2004)

Interaction influence in systems M2Se3—Ge (M – In,Sb) on properties of thin-film coatings
за авторством: V. F. Zinchenko, та інші
Опубліковано: (2014)

Development of Technology for Sen sor Chip Production with Increased Sensitivity and Improved Physical and Mechanical Characteristics for Op tical Sensors Based on Surface Plasmon Resonance
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2017)

Using non-organic resist based on As-S-Se chalcogenide glasses for combined optical/digital security devices
за авторством: Kostyukevych, S.A., та інші
Опубліковано: (2001)

Sheet resistance and surface topology time dynamics of intrinsic oxide film on InSe crystals
за авторством: V. M. Katerynchuk, та інші
Опубліковано: (2011)

Sheet resistance and surface topology time dynamics of intrinsic oxide film on InSe crystals
за авторством: Katerynchuk, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)

The influence of mineral fertilizers on photostimulation apparatus seedlings of ornamental exotics plants in the Steppe of the Dnieper region
за авторством: I. O. Zaitseva, та інші
Опубліковано: (2016)

Bismuth growth on Ge(111): evolution of morphological changes from nanocrystals to films
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2014)

Bismuth growth on Ge(111): evolution of morphological changes from nanocrystals to films
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2014)

Optical properties of Ge-As-S thin films
за авторством: Tolmachov, I.D., та інші
Опубліковано: (2009)

Polarization properties and a local structure of (GeSe₂)x(Sb2Se₃)₁-x glasses
за авторством: Malesh, V.I., та інші
Опубліковано: (2002)

Carrier type reversal of graphene multilayered thin film
за авторством: H. A. Elmeleegi, та інші
Опубліковано: (2014)

Carrier type reversal of graphene multilayered thin film
за авторством: H. A. Elmeleegi, та інші
Опубліковано: (2014)

Formation of submicron periodic plasmon structures of large area by using the interference lithography method with vacuum photoresists
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2015)

Resistance thermometers based on the germanium films
за авторством: Mitin, V.F.
Опубліковано: (1999)

The use of porous SiOx films in sensors based on surface plasmon resonance
за авторством: Ye. Vakariuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Depth Profiling of the Near-Surface Layer for Ge33as12se55 Thin Films
за авторством: Shchurova, T.N., та інші
Опубліковано: (2010)