Ermolenko, E. A. (2014). Classification of methods for measuring current-voltage characteristics of semiconductor devices.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Ermolenko, E. A. Classification of Methods for Measuring Current-voltage Characteristics of Semiconductor Devices. 2014.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Ermolenko, E. A. Classification of Methods for Measuring Current-voltage Characteristics of Semiconductor Devices. 2014.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.