Kinetics deformation of current-voltage characteristics of the varistor oxide structures due to overcharging of the localized states
Збережено в:
Дата: | 2014 |
---|---|
Автори: | A. S. Tonkoshkur, A. V. Ivanchenko |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2014
|
Назва видання: | Technology and design in electronic equipment |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000405300 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Electromigration degradation model of metal oxide varistor structures
за авторством: A. V. Ivanchenko, та інші
Опубліковано: (2012) -
Electromigration degradation model of metal oxide varistor structures
за авторством: O. V. Ivanchenko, та інші
Опубліковано: (2012) -
Varistor-like current-voltage characteristic of porous silicon
за авторством: Vakulenko, O.V., та інші
Опубліковано: (1999) -
Model charged cylindrical nanopore in a colloidal dispersion: charge reversal, overcharging and double overcharging
за авторством: González-Tovar, E., та інші
Опубліковано: (2017) -
Influence of sintering time on the microstructure and electric properties of low-voltage Zinc oxide-based varistor ceramics
за авторством: Yu. Lyashkov
Опубліковано: (2014)