Bilokon, S. A., Bondarenko, M. A., & Bondarenko, J. J. (2014). Determination of adhesion strength of thin oxide coatings on dielectric materials by the method of atomic force microscopy.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Bilokon, S. A., M. A. Bondarenko, та Ju. Ju Bondarenko. Determination of Adhesion Strength of Thin Oxide Coatings on Dielectric Materials by the Method of Atomic Force Microscopy. 2014.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Bilokon, S. A., et al. Determination of Adhesion Strength of Thin Oxide Coatings on Dielectric Materials by the Method of Atomic Force Microscopy. 2014.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.