The Role of Inhomogeneous Deformation and Correlation of Subsurface Defects in Grazing X-Ray Diffraction
Збережено в:
| Дата: | 2014 |
|---|---|
| Автори: | Ju. Gaevskij, I. E. Golentus, V. B. Molodkin |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2014
|
| Назва видання: | Metallophysics and advanced technologies |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000525682 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Dynamical Theory of Grazing Diffuse Scattering of X-Rays by a Crystal with Subsurface Defects
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)
Techniques for x-ray focusing
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010)
Detection of subsurface local defects of metallic structures using the method of correlation signal processing
за авторством: Ya. P. Kulynych, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Ya. P. Kulynych, та інші
Опубліковано: (2013)
X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010)
X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: Kladko, V.P., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Kladko, V.P., та інші
Опубліковано: (2010)
Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)
Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)
X-ray dynamical diffractometry of defect structure of garnet single crystals
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)
The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure
за авторством: Bazdyreva, S.V., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Bazdyreva, S.V., та інші
Опубліковано: (2013)
Correlation of spectral analysis and X-ray diffraction study in identifying different types of coordinated tiosemicarbazone in the Ni(II) complex
за авторством: H. H. Repich, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: H. H. Repich, та інші
Опубліковано: (2015)
Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)
Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)
Intercalation of fullerite C₆₀ with N₂ molecules. An investigation by x-ray powder diffraction
за авторством: Galtsov, N.N., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Galtsov, N.N., та інші
Опубліковано: (2007)
X-ray diffraction analysis of the polymorphic transition formed in constant physical fields
за авторством: V. O. Vilenskyi, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: V. O. Vilenskyi, та інші
Опубліковано: (2014)
X-ray diffraction and thermal studies on some food and cosmetic bentonite clays
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2019)
Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)
Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS₂)₁₀₀₋x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: Rubish, V.M., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Rubish, V.M., та інші
Опубліковано: (2014)
On the use of model diffraction profiles in the microstructure analysis of nanocrystalline metal oxides based on powder x-ray diffraction data
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2022)
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2022)
Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019)
Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Scorbun, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: A. D. Scorbun, та інші
Опубліковано: (2019)
Investigation of the interaction of lithium with n-InSe: spectra of inpedance and X-ray diffraction
за авторством: S. V. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: S. V. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2014)
X-Ray Diffraction Images of Microscratchings Presented in the Form of Multilane Distributions of Concentrated Forces
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)
Research on mechanical stress relaxation in real crystals by X-ray diffraction moire method
за авторством: V. P. Shafraniuk
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. P. Shafraniuk
Опубліковано: (2016)
X-ray diffraction study of atomic long-range order of Fe-AI alloy
за авторством: Repetsky, S.P., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Repetsky, S.P., та інші
Опубліковано: (2005)
The theory of the line profile based on the absorption of X-ray diffraction and its experimental demonstration
за авторством: Liu Kejia, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Liu Kejia, та інші
Опубліковано: (2016)
New automated shear cell with diamond anvils for in situ studies of materials using X-ray diffraction
за авторством: N. V. Novikov, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: N. V. Novikov, та інші
Опубліковано: (2015)
Models of Deformation Dependences of Total Integrated Intensity of Dynamical Diffraction in Single Crystals for Various Diffraction Conditions
за авторством: S. M. Brovchuk, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: S. M. Brovchuk, та інші
Опубліковано: (2014)
Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)
Interlayer Mn–Mn exchange parameter MnPS₃ from x-ray diffraction data
за авторством: Yagotintsev, K.A., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Yagotintsev, K.A., та інші
Опубліковано: (2012)
Supramolecular organization and electronic structure of perylene tetracarboxylic diimide: X-ray diffraction and theoretical studies
за авторством: Pokropivny, A.
Опубліковано: (2010)
за авторством: Pokropivny, A.
Опубліковано: (2010)
Study of structure perfection of KDP single crystals using the X-ray dynamic diffraction effects
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)
Growing and X-ray diffraction pattern of single-crystal double phosphate Li₂Mn(PO₃)₄
за авторством: Nagorny, P.G., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Nagorny, P.G., та інші
Опубліковано: (2018)
Residual stresses in Ti₄₁¸₅Zr₄₁¸₅Ni₁₇ quasi-crystalline ribbons measured by X-ray diffraction
за авторством: Malykhin, S.
Опубліковано: (2007)
за авторством: Malykhin, S.
Опубліковано: (2007)
Theory of oscillations in the STM conductance resulting from subsurface defects (Review Article)
за авторством: Avotina, Ye.S., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Avotina, Ye.S., та інші
Опубліковано: (2010)
Electromagnetic grazing anomalies. Energy flux extrema
за авторством: A. V. Kats
Опубліковано: (2019)
за авторством: A. V. Kats
Опубліковано: (2019)
Electromagnetic grazing anomalies. Energy flux extrema
за авторством: Kats, A.V.
Опубліковано: (2019)
за авторством: Kats, A.V.
Опубліковано: (2019)
Models of Deformation Dependences of Total Integrated Intensity of Dynamical Diffraction in Single Crystals for Various Diffraction Conditions
за авторством: Brovchuk, S.M., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Brovchuk, S.M., та інші
Опубліковано: (2014)
Interlayer Mn–Mn exchange parameter MnPS3 from x-ray diffraction data
за авторством: K. A. Yagotintsev, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: K. A. Yagotintsev, та інші
Опубліковано: (2012)
A method of analysis of the shapes of X-ray diffraction lines not requiring a transition to the space of an object
за авторством: N. M. Rozhenko, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: N. M. Rozhenko, та інші
Опубліковано: (2019)
Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction
за авторством: Shchagin, A.V.
Опубліковано: (2004)
за авторством: Shchagin, A.V.
Опубліковано: (2004)
Схожі ресурси
-
Dynamical Theory of Grazing Diffuse Scattering of X-Rays by a Crystal with Subsurface Defects
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014) -
Techniques for x-ray focusing
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010) -
Detection of subsurface local defects of metallic structures using the method of correlation signal processing
за авторством: Ya. P. Kulynych, та інші
Опубліковано: (2013) -
X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010) -
X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: Kladko, V.P., та інші
Опубліковано: (2010)