Зображення обкладинки

The Role of Inhomogeneous Deformation and Correlation of Subsurface Defects in Grazing X-Ray Diffraction

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2014
Автори:	Ju. Gaevskij, I. E. Golentus, V. B. Molodkin
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2014
Назва видання:	Metallophysics and advanced technologies
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000525682
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Dynamical Theory of Grazing Diffuse Scattering of X-Rays by a Crystal with Subsurface Defects
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)

Detection of subsurface local defects of metallic structures using the method of correlation signal processing
за авторством: Ya. P. Kulynych, та інші
Опубліковано: (2013)

Techniques for x-ray focusing
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010)

X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010)

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

X-ray dynamical diffractometry of defect structure of garnet single crystals
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)

Correlation of spectral analysis and X-ray diffraction study in identifying different types of coordinated tiosemicarbazone in the Ni(II) complex
за авторством: H. H. Repich, та інші
Опубліковано: (2015)

Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)

Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)

X-ray diffraction analysis of the polymorphic transition formed in constant physical fields
за авторством: V. O. Vilenskyi, та інші
Опубліковано: (2014)

X-ray diffraction and thermal studies on some food and cosmetic bentonite clays
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2019)

Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)

On the use of model diffraction profiles in the microstructure analysis of nanocrystalline metal oxides based on powder x-ray diffraction data
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2022)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Scorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

Investigation of the interaction of lithium with n-InSe: spectra of inpedance and X-ray diffraction
за авторством: S. V. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2014)

X-Ray Diffraction Images of Microscratchings Presented in the Form of Multilane Distributions of Concentrated Forces
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Research on mechanical stress relaxation in real crystals by X-ray diffraction moire method
за авторством: V. P. Shafraniuk
Опубліковано: (2016)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)

New automated shear cell with diamond anvils for in situ studies of materials using X-ray diffraction
за авторством: N. V. Novikov, та інші
Опубліковано: (2015)

Supramolecular organization and electronic structure of perylene tetracarboxylic diimide: X-ray diffraction and theoretical studies
за авторством: Pokropivny, A.
Опубліковано: (2010)

Study of structure perfection of KDP single crystals using the X-ray dynamic diffraction effects
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)

Interlayer Mn–Mn exchange parameter MnPS3 from x-ray diffraction data
за авторством: K. A. Yagotintsev, та інші
Опубліковано: (2012)

A method of analysis of the shapes of X-ray diffraction lines not requiring a transition to the space of an object
за авторством: N. M. Rozhenko, та інші
Опубліковано: (2019)

Models of Deformation Dependences of Total Integrated Intensity of Dynamical Diffraction in Single Crystals for Various Diffraction Conditions
за авторством: S. M. Brovchuk, та інші
Опубліковано: (2014)

Studying the algorithms of segmentation of X-ray TV images of welds for automatic detection of defects
за авторством: Ja. P. Lazorenko, та інші
Опубліковано: (2009)

Radiation/annealing-induced structural changes in GexAs₄₀-xS₆₀ glasses as revealed from high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements
за авторством: Kavetskyy, T.S., та інші
Опубліковано: (2012)

Impurity concentration influence on the correlation of the x-ray lines intensity in metal-fullerene crystals
за авторством: A. N. Drozdov, та інші
Опубліковано: (2009)

Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data
за авторством: M. D. Borcha, та інші
Опубліковано: (2019)

Crystal structure of dense pseudo-cubic boron allotrope, pc-B52, by powder X-ray diffraction
за авторством: O. O. Kurakevych, та інші
Опубліковано: (2013)

X-ray diffraction method application to assess the energy losses on explosive-rock contact under various blasting
за авторством: I. Kratkovskyi, та інші
Опубліковано: (2020)

Detection of planar subsurface defects in fiberglass plastic composite panels by optical-acoustic method
за авторством: L. I. Muravskyi, та інші
Опубліковано: (2022)

Changes in lifetime of charge carriers and in Ge defective subsurface layer conductivity at thermal treatment
за авторством: Надточий, В.А., та інші
Опубліковано: (2004)

Electromagnetic grazing anomalies. Energy flux extrema
за авторством: A. V. Kats
Опубліковано: (2019)

Application of microwave ray refraction in inhomogeneous plasma interferometry
за авторством: A. I. Skibenko, та інші
Опубліковано: (2016)

Application of microwave ray refraction in inhomogeneous plasma interferometry
за авторством: A. I. Skibenko, та інші
Опубліковано: (2016)

X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si(111) and Al2O3(0001) substrates
за авторством: N. V. Safriuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Localization of elongated subsurface defects in case of movement of the primary field source on the surface of metallic product
за авторством: I. I. Tryhub
Опубліковано: (2016)

The effect of deformation and temperature on the ordering of molecules polyimide Kapton H. X-ray data
за авторством: I. S. Braude, та інші
Опубліковано: (2016)