Annealing Effect on the Microstructure and Mechanical Properties of a Thin Titanium Nitride Film
Збережено в:
Дата: | 2014 |
---|---|
Автори: | S. C. Her, C. L. Wu |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2014
|
Назва видання: | Strength of Materials |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000576110 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Annealing Effect on the Microstructure and Mechanical Properties of a Thin Titanium Nitride Film
за авторством: Her, S.C., та інші
Опубліковано: (2014) -
Influence of Si on microstructure and mechanical properties of TiAISiN hard thin films
за авторством: Nakonechna, O.I., та інші
Опубліковано: (2004) -
Comparison of properties inherent to thin titanium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC and porous SiC substrates
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2018) -
The impact of low temperature thermal annealing on optical properties of thin composite films
за авторством: Gorbov, I. V., та інші
Опубліковано: (2014) -
Microstructure of thin Si−Sn composite films
за авторством: V. B. Neimash, та інші
Опубліковано: (2013)