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Influence of surface and intergrain boundaries scattering mechanisms of current carriers in thin films based on tin telluride

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2014
Hauptverfasser:	D. M. Freik, B. S. Dzundza, I. I. Chaviak, V. I. Makovyshyn, I. A. Arseniuk
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2014
Schriftenreihe:	Physical surface engineering
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001030978
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