Influence of surface and intergrain boundaries scattering mechanisms of current carriers in thin films based on tin telluride
Gespeichert in:
| Datum: | 2014 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | D. M. Freik, B. S. Dzundza, I. I. Chaviak, V. I. Makovyshyn, I. A. Arseniuk |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2014
|
| Schriftenreihe: | Physical surface engineering |
| Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001030978 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Institution
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASÄhnliche Einträge
-
Thermoelectric properties of thin films based on pure and doped lead telluride
von: B. S. Dzundza, et al.
Veröffentlicht: (2016) -
The Influence of Surface on Scattering of Carriers and Kinetic Effects in n-PBTE Films
von: Ruvinskii, M.A., et al.
Veröffentlicht: (2017) -
Thermoelectric properties of bismuth-doped tin telluride SnTe:Bi
von: D. M. Freik, et al.
Veröffentlicht: (2016) -
Analytical model for intergrain expansion and cleavage: random grain boundaries
von: Mazilova, T.I., et al.
Veröffentlicht: (2014) -
Thermoelectric vapour-phase condensate of p-type tin telluride
von: D. M. Freik, et al.
Veröffentlicht: (2014)