Properties of the crystalline silicon strained via cavitation impact
Збережено в:
| Дата: | 2013 |
|---|---|
| Автор: | R. K. Savkina |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
2013
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000350490 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Properties of the crystalline silicon strained via cavitation impact
за авторством: Savkina, R.K.
Опубліковано: (2013) -
The influence of non-uniform deformation on photoelectric properties of crystalline silicon
за авторством: Vakulenko, O.V., та інші
Опубліковано: (2000) -
Electron beam purification of crystalline silicon
за авторством: V. A. Berezos
Опубліковано: (2013) -
Relaxation of Magnetosensitive Impurities in Single-Crystalline Silicon
за авторством: V. A. Makara, та інші
Опубліковано: (2013) -
The influence of cavitation treatment on physicochemical properties of calcium hydroyxide
за авторством: V. T. Yavorskyi, та інші
Опубліковано: (2013)