Safriuk, N. V., Stanchu, G. V., Kuchuk, A. V., Kladko, V. P., Belyaev, A. E., & Machulin, V. F. (2013). X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si(111) and Al2O3(0001) substrates.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Safriuk, N. V., G. V. Stanchu, A. V. Kuchuk, V. P. Kladko, A. E. Belyaev, та V. F. Machulin. X-ray Diffraction Investigation of GaN Layers on Si(111) and Al2O3(0001) Substrates. 2013.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Safriuk, N. V., et al. X-ray Diffraction Investigation of GaN Layers on Si(111) and Al2O3(0001) Substrates. 2013.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.