X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si(111) and Al2O3(0001) substrates
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| Datum: | 2013 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | N. V. Safriuk, G. V. Stanchu, A. V. Kuchuk, V. P. Kladko, A. E. Belyaev, V. F. Machulin |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2013
|
| Schriftenreihe: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
| Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000352311 |
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| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Institution
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