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The use of porous SiOx films in sensors based on surface plasmon resonance

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2013
Hauptverfasser:	Ye. Vakariuk, Yu. S. Hromovoi, V. A. Danko, H. V. Dorozhynskyi, S. A. Zyno, I. Z. Indutnyi, A. V. Samoilov, Yu. V. Ushenin, R. V. Khrystosenko, Ye. Shepeliavyi
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2013
Schriftenreihe:	Optoelectronics and Semiconductor Technique
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000363125
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