Modular spectrometer for quality assessment of solid-state detector technology
Збережено в:
Дата: | 2013 |
---|---|
Автори: | V. L. Perevertajlo, I. L. Zajtsevskij, L. I. Tarasenko, A. V. Perevertajlo, E. A. Shkirenko, A. S. Krjukov |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2013
|
Назва видання: | Technology and design in electronic equipment |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000405007 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Multichannel Coordinate-Sensetive XRay Detector System Based on a Silicon Integrated Tech nology
за авторством: V. L. Perevertajlo, та інші
Опубліковано: (2013) -
Spectrometer-Identifier Based on a Solid Detector for NFC Facilities
за авторством: Yu. Zabulonov, та інші
Опубліковано: (2021) -
Quartz bar Cherenkov detector characterization at the LEETECH spectrometer
за авторством: D. Atti, та інші
Опубліковано: (2017) -
Quality assessment system for monolithic active micropixel detectors
за авторством: M. V. Puhach, та інші
Опубліковано: (2023) -
Microwave Spectrometer of Rydberg State Atoms
за авторством: Dyubko, S. F., та інші
Опубліковано: (2012)