Obtaining of bilateral high voltage epitaxial p—i—n Si structures by LPE method
Збережено в:
| Дата: | 2013 |
|---|---|
| Автори: | N. M. Vakiv, S. I. Krukovskij, V. R. Timchishin, A. P. Vaskiv |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2013
|
| Назва видання: | Technology and design in electronic equipment |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000405174 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Sharp interfaces in p+-AlGaAs/n-GaAs epitaxial structures obtained by MOCVD
за авторством: N. M. Vakiv, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: N. M. Vakiv, та інші
Опубліковано: (2014)
High-resistance low-doped GaAs and AlGaAs layers obtained by LPE
за авторством: Krukovsky, S.I., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Krukovsky, S.I., та інші
Опубліковано: (2003)
AFM study of micromorphology and microscopic growth mechanisms of Hg₁₋x CdxTe LPE epitaxial layers
за авторством: Beketov, G.V., та інші
Опубліковано: (2000)
за авторством: Beketov, G.V., та інші
Опубліковано: (2000)
Complex-dopping epitaxial structures InP/InGaAsP for optoelectronic
за авторством: S. I. Krukovskij
Опубліковано: (2006)
за авторством: S. I. Krukovskij
Опубліковано: (2006)
Topography of Si epitaxial monolayers obtained on Si (001) substrate by computer simulations
за авторством: Pyziak, L., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Pyziak, L., та інші
Опубліковано: (2003)
p-n junctions obtained in (Ge₂)x(GaAs)₁₋x varizone solid solutions by liquid phase epitaxy
за авторством: Sapaev, B., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Sapaev, B., та інші
Опубліковано: (2005)
Determination of crystallization conditions of Ge/GaAs heterostructures in the scanning LPE method
за авторством: Tsybulenko, V.V., та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: Tsybulenko, V.V., та інші
Опубліковано: (2020)
Epitaxial InGaN nanostructures grown in pores of anodic aluminium oxide on Si
за авторством: G. G. Gorokh, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: G. G. Gorokh, та інші
Опубліковано: (2011)
Получение двухсторонних высоковольтных эпитаксиальных кремниевых p–i–n-структур методом ЖФЭ
за авторством: Vakiv, N. M., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Vakiv, N. M., та інші
Опубліковано: (2013)
Obtaining heterostructures with quantium dots for sensors by using liquid phase epitaxy
за авторством: Maronchuk, I.E., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Maronchuk, I.E., та інші
Опубліковано: (2004)
Isothermal growth kinetics of CdxHg₁₋xTe LPE layers
за авторством: Moskvin, P.P., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Moskvin, P.P., та інші
Опубліковано: (2007)
Growing the epitaxial undoped and N-doped ZnO films by radical beam gettering epitaxy
за авторством: Rogozin, I.V.
Опубліковано: (2006)
за авторством: Rogozin, I.V.
Опубліковано: (2006)
Influence of elastic strains on LPE growth kinetics in the Cd-Hg-Te System
за авторством: Moskvin, P.P., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Moskvin, P.P., та інші
Опубліковано: (2007)
Description of bilateral ideals in a class of noncommutative rings. I
за авторством: Bavula, V. V., та інші
Опубліковано: (1993)
за авторством: Bavula, V. V., та інші
Опубліковано: (1993)
Photoconductivity in bilateral macroporous silicon
за авторством: V. F. Onyshchenko
Опубліковано: (2022)
за авторством: V. F. Onyshchenko
Опубліковано: (2022)
Photoconductivity in bilateral macroporous silicon
за авторством: V. F. Onyshchenko
Опубліковано: (2022)
за авторством: V. F. Onyshchenko
Опубліковано: (2022)
Current-voltage characteristics of the injection photodiode based on M(In)-nCdS-pSi-M(In) structure
за авторством: I. B. Sapaev, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: I. B. Sapaev, та інші
Опубліковано: (2019)
Optical properties of irradiated epitaxial GaN films
за авторством: Ye. Bieliaiev, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Ye. Bieliaiev, та інші
Опубліковано: (2014)
Optical properties of irradiated epitaxial GaN films
за авторством: A. E. Belyaev, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: A. E. Belyaev, та інші
Опубліковано: (2014)
Spectral photosensitivity of the m-n⁰-n structure on the basis of epitaxial layers
за авторством: Yodgorova, D.M., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Yodgorova, D.M., та інші
Опубліковано: (2008)
On the results of N. P. Korneichuk obtained in 1990–1999
за авторством: Babenko, V. F., та інші
Опубліковано: (2000)
за авторством: Babenko, V. F., та інші
Опубліковано: (2000)
Analytic theory for the current-voltage characteristic of a nanowire radial p-i-n diode
за авторством: Borblik, V.L.
Опубліковано: (2021)
за авторством: Borblik, V.L.
Опубліковано: (2021)
Photodiode based on epitaxial silicon with high sensitivity at the wavelength 254 nm
за авторством: Yu. Dobrovolskyi, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Yu. Dobrovolskyi, та інші
Опубліковано: (2014)
Photodiode based on epitaxial silicon with high sensitivity at the wavelength 254 nm
за авторством: Dobrovolskyi, Yu., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Dobrovolskyi, Yu., та інші
Опубліковано: (2014)
Optical properties of AlN/n-Si(111) films obtained by method of HF reactive magnetron sputtering
за авторством: Zayats, M.S., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Zayats, M.S., та інші
Опубліковано: (2010)
The Problems and Prospects of Ukrainian-Spanish Bilateral Cooperation
за авторством: I. O. Panova, та інші
Опубліковано: (2023)
за авторством: I. O. Panova, та інші
Опубліковано: (2023)
One criterion of unitarity of bilateral integral transformation
за авторством: Vu Kim Tuan, та інші
Опубліковано: (1992)
за авторством: Vu Kim Tuan, та інші
Опубліковано: (1992)
Structural and composition irregularities in GaAs:Si/GaAs films grown by liquid-phase epitaxy
за авторством: Kladko, V.P., та інші
Опубліковано: (2000)
за авторством: Kladko, V.P., та інші
Опубліковано: (2000)
High-resistivity p-type silicon-based p-i-n photodiode with high responsivity at the wavelength of 1060 nm
за авторством: M. S. Kukurudziak, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: M. S. Kukurudziak, та інші
Опубліковано: (2020)
Adhesive strength of nanocomposite Zr-Ti-Si-N coatings obtained by vacuum arc method
за авторством: V. M. Beresnev, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. M. Beresnev, та інші
Опубліковано: (2010)
Electrophysical сharacteristics of LEDs based on GaN epitaxial films
за авторством: Oleksenko, P.Ph., та інші
Опубліковано: (1998)
за авторством: Oleksenko, P.Ph., та інші
Опубліковано: (1998)
Thick layers liquid-phase epitaxy method
за авторством: S. N. Dranchuk, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: S. N. Dranchuk, та інші
Опубліковано: (2013)
Modelling of epitaxial growth of diamond crystals in high-carbon Fe–Al alloys
за авторством: A. A. Mekhed, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: A. A. Mekhed, та інші
Опубліковано: (2013)
Modelling of Epitaxial Growth of Diamond Crystals in High-Carbon Fe—Al Alloys
за авторством: Mekhed, A.A., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Mekhed, A.A., та інші
Опубліковано: (2013)
Novel hysteresis effect in ultrathin epitaxial Gd₂O₃ high-k dielectric
за авторством: Nazarov, A.N., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Nazarov, A.N., та інші
Опубліковано: (2008)
Modeling of photo-conversion efficiency for hydrogenated amorphous Si p-i-n structures
за авторством: Sachenko, A.V., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Sachenko, A.V., та інші
Опубліковано: (2007)
Solutions of the matrix linear bilateral polynomial equation and their structure
за авторством: Dzhaliuk, Nataliia S., та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Dzhaliuk, Nataliia S., та інші
Опубліковано: (2019)
Solutions of the matrix linear bilateral polynomial equation and their structure
за авторством: Dzhaliuk, N.S., та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Dzhaliuk, N.S., та інші
Опубліковано: (2019)
Bilateral Bailey Lattices and Andrews-Gordon Type Identities
за авторством: Dousse, Jehanne, та інші
Опубліковано: (2025)
за авторством: Dousse, Jehanne, та інші
Опубліковано: (2025)
Crystal defects in epitaxial InP layers: electrical and scanning electron microscope study
за авторством: Horvath, Zs.J., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Horvath, Zs.J., та інші
Опубліковано: (2004)
Схожі ресурси
-
Sharp interfaces in p+-AlGaAs/n-GaAs epitaxial structures obtained by MOCVD
за авторством: N. M. Vakiv, та інші
Опубліковано: (2014) -
High-resistance low-doped GaAs and AlGaAs layers obtained by LPE
за авторством: Krukovsky, S.I., та інші
Опубліковано: (2003) -
AFM study of micromorphology and microscopic growth mechanisms of Hg₁₋x CdxTe LPE epitaxial layers
за авторством: Beketov, G.V., та інші
Опубліковано: (2000) -
Complex-dopping epitaxial structures InP/InGaAsP for optoelectronic
за авторством: S. I. Krukovskij
Опубліковано: (2006) -
Topography of Si epitaxial monolayers obtained on Si (001) substrate by computer simulations
за авторством: Pyziak, L., та інші
Опубліковано: (2003)