Voloshko, S. M., Kotenko, Y., & Oleshkevych, A. I. (2013). Application of Rutherford backscattering method for diffusion and phase formation studies in thin films of Sn – Cu system.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Voloshko, S. M., Ye Kotenko, та A. I. Oleshkevych. Application of Rutherford Backscattering Method for Diffusion and Phase Formation Studies in Thin Films of Sn – Cu System. 2013.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Voloshko, S. M., et al. Application of Rutherford Backscattering Method for Diffusion and Phase Formation Studies in Thin Films of Sn – Cu System. 2013.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.