Voloshko, S. M., Kotenko, Y., & Oleshkevych, A. I. (2013). Application of Rutherford backscattering method for diffusion and phase formation studies in thin films of Sn – Cu system.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Voloshko, S. M., Ye Kotenko, und A. I. Oleshkevych. Application of Rutherford Backscattering Method for Diffusion and Phase Formation Studies in Thin Films of Sn – Cu System. 2013.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Voloshko, S. M., et al. Application of Rutherford Backscattering Method for Diffusion and Phase Formation Studies in Thin Films of Sn – Cu System. 2013.
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