Effect of Surfactant Germanium Sublayers of the Subatomic Thickness on the Structure and the Low-Temperature Thermo-EMF of Gold and Copper Ultra-Thin Films
Збережено в:
Дата: | 2013 |
---|---|
Автори: | R. I. Bihun, O. E. Kravchenko, D. S. Leonov, Ya. A. Pastyrskyi |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2013
|
Назва видання: | Metallophysics and advanced technologies |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000518009 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Influence of germanium sublayers on the structure of gold films with nanometer thickness
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2015) -
Formation of metallic character of electrical conduction in the vacuum condensates of copper deposited on a surface of a sublayer of silicon of subatomic thickness
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2013) -
Influence of Sublayers of Germanium on a Threshold of Percolation of a Current in Thin Films of Copper
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2013) -
Impact of germanium sublayer on percolation process in palladium thin films
за авторством: R. I. Bihun, та інші
Опубліковано: (2012) -
Dependence of the anisotropy parameter of drag thermo-emf on the impurity concentration in the n-type germanium and silicon crystals
за авторством: G. P. Gaidar, та інші
Опубліковано: (2017)