Зображення обкладинки

X-Ray Diffraction Images of Microscratchings Presented in the Form of Multilane Distributions of Concentrated Forces

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2013
Автори:	I. M. Fodchuk, S. N. Novikov, Ja. M. Struk, I. V. Fesiv
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2013
Назва видання:	Metallophysics and advanced technologies
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000518019
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)

Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)

New automated shear cell with diamond anvils for in situ studies of materials using X-ray diffraction
за авторством: N. V. Novikov, та інші
Опубліковано: (2015)

X-ray diffraction analysis of the polymorphic transition formed in constant physical fields
за авторством: V. O. Vilenskyi, та інші
Опубліковано: (2014)

The Role of Inhomogeneous Deformation and Correlation of Subsurface Defects in Grazing X-Ray Diffraction
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)

X-ray diffraction and thermal studies on some food and cosmetic bentonite clays
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2019)

Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)

Radio and X-ray Images of Extragalactic Sources
за авторством: Bannikova, E. Yu., та інші
Опубліковано: (2013)

On the use of model diffraction profiles in the microstructure analysis of nanocrystalline metal oxides based on powder x-ray diffraction data
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2022)

Scattered X-ray radiation algorithmic compensation procedure in the X-ray imaging as an alternative to hardware methods
за авторством: Yu. Danyk, та інші
Опубліковано: (2021)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Scorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

Investigation of the interaction of lithium with n-InSe: spectra of inpedance and X-ray diffraction
за авторством: S. V. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2014)

Research on mechanical stress relaxation in real crystals by X-ray diffraction moire method
за авторством: V. P. Shafraniuk
Опубліковано: (2016)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)

Modelling of X-ray images of digital X-ray-TV system based on scintillation screen and CCD matrix
за авторством: V. A. Troitskij, та інші
Опубліковано: (2017)

High-sensitivity X-ray TV systems based on X-ray screens and CCD cameras with image accumulation
за авторством: V. A. Troitskij, та інші
Опубліковано: (2009)

Supramolecular organization and electronic structure of perylene tetracarboxylic diimide: X-ray diffraction and theoretical studies
за авторством: Pokropivny, A.
Опубліковано: (2010)

Study of structure perfection of KDP single crystals using the X-ray dynamic diffraction effects
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)

Interlayer Mn–Mn exchange parameter MnPS3 from x-ray diffraction data
за авторством: K. A. Yagotintsev, та інші
Опубліковано: (2012)

A method of analysis of the shapes of X-ray diffraction lines not requiring a transition to the space of an object
за авторством: N. M. Rozhenko, та інші
Опубліковано: (2019)

X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010)

Physical model of the development convective Stream and wear Crucible in Intermediate Ladles of multilane solidification of alloys
за авторством: A. N. Smirnov, та інші
Опубліковано: (2015)

The accuracy of diffraction patterns taken in a diamond-anvil cell using an X-ray diffractometer according to the Dobrovol&#039;skii–Shvedov method
за авторством: N. V. Novikov, та інші
Опубліковано: (2013)

Studying the algorithms of segmentation of X-ray TV images of welds for automatic detection of defects
за авторством: Ja. P. Lazorenko, та інші
Опубліковано: (2009)

The influence of primary treatment on segmentation of X-ray images of welded joints
за авторством: R. A. Vorobel, та інші
Опубліковано: (2013)

Radiation/annealing-induced structural changes in GexAs₄₀-xS₆₀ glasses as revealed from high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements
за авторством: Kavetskyy, T.S., та інші
Опубліковано: (2012)

Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data
за авторством: M. D. Borcha, та інші
Опубліковано: (2019)

Crystal structure of dense pseudo-cubic boron allotrope, pc-B52, by powder X-ray diffraction
за авторством: O. O. Kurakevych, та інші
Опубліковано: (2013)

X-ray diffraction method application to assess the energy losses on explosive-rock contact under various blasting
за авторством: I. Kratkovskyi, та інші
Опубліковано: (2020)

Impurity concentration influence on the correlation of the x-ray lines intensity in metal-fullerene crystals
за авторством: A. N. Drozdov, та інші
Опубліковано: (2009)

A hybrid convolutional network for image processing x-ray images for detection of the disease of COVID-19
за авторством: Ye. M. Fedorchenko, та інші
Опубліковано: (2022)

X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si(111) and Al2O3(0001) substrates
за авторством: N. V. Safriuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Correlation of spectral analysis and X-ray diffraction study in identifying different types of coordinated tiosemicarbazone in the Ni(II) complex
за авторством: H. H. Repich, та інші
Опубліковано: (2015)

Determination of surface parameters of solids by methods of X-ray total external reflection
за авторством: Balovsyak, S.V., та інші
Опубліковано: (2003)

Radiation/annealing-induced structural changes in GexAs40 xS60 glasses as revealed from high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements
за авторством: T. S. Kavetskyy, та інші
Опубліковано: (2012)

Detection of structural features of objects using X-ray phase-contrast imaging method
за авторством: A. Ovcharenko, та інші
Опубліковано: (2024)

Detection of structural features of objects using X-ray phase-contrast imaging method
за авторством: A. Y. Ovcharenko, та інші
Опубліковано: (2024)