Зображення обкладинки

Dynamical Diffractometry of Defects and Strains in Gd3Ga5O12 Garnet Crystals After Implantation with F+ Ions

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2013
Автори:	O. S. Skakunova, V. M. Pylypiv, T. P. Vladimirova, S. Y. Olikhovskyi, V. B. Molodkin, B. K. Ostafiichuk, Ye. M. Kyslovskyi, O. V. Reshetnyk, S. V. Lizunova
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2013
Назва видання:	Metallophysics and advanced technologies
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000521432
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Dynamical diffractometry of Structural defects in Nd3Ga5O12 garnet single crystal
за авторством: T. P. Vladimirova, та інші
Опубліковано: (2011)

X-ray dynamical diffractometry of defect structure of garnet single crystals
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)

Modelling and diagnostics of damages and strains in a crystal of Gd3Ga5O12 after implantation of F ions
за авторством: V. O. Kotsiubynskyi, та інші
Опубліковано: (2014)

Dispersion (Phase) Nature of Structural Sensitivity and Informativity of Triple-Crystal Diffractometry of Defects and Strains within the Ion-Implanted Films
за авторством: O. S. Skakunova, та інші
Опубліковано: (2015)

Simulation and Diagnostics of Strains in the Subsurface Layers of Gadolinium—Gallium Garnet Single Crystals Implanted with F+ Ions
за авторством: V. O. Kotsiubynskyi, та інші
Опубліковано: (2014)

Quantum-Mechanical Model of Interconsistent Amplitude and Dispersion Influences of Structure Imperfections on the Multiple Scattering Pattern for Mapping and Characterization of Strains and Defects in Ion-Implanted Garnet Films
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2015)

Quantum-Mechanical Model of Interconsistent Amplitude and Dispersion Influences of Structure Imperfections on the Multiple Scattering Pattern for Mapping and Characterization of Strains and Defects in Ion-Implanted Garnet Films
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2015)

X-Ray Diffractometry of Lanthanum-Doped Iron—Yttrium Garnet Structures after Ion Implantation
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2010)

Dynamical Theory of Triple-Crystal X-ray Diffractometry and Characterization of Microdefects and Strains in Imperfect Single Crystals
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2016)

Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2010)

New Performance Capabilities of Integral Dynamical Diffractometry of Crystal Imperfections
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2015)

New approaches and possibilities of a dynamical diffractometry of imperfections of multiparameter systems
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2014)

Distribution of chemical elements in the surface layer of the films implanted ions SI+ with yttrium iron garnet
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2014)

Magnetic structure of subsurface layers of single crystalline yttrium-iron garnet films implanted with Si+ ions with various energies
за авторством: Pylypiv, V.M., та інші
Опубліковано: (2012)

Magnetic structure of subsurface layers of single crystalline yttrium-iron garnet films implanted with Si+ ions with various energies
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2012)

Defects related luminescence in yttrium-aluminum garnet crystals
за авторством: Shiran, N., та інші
Опубліковано: (2016)

Anisotropy of elastic deformations in multilayer (In,Ga)As/GaAs structures with quantum wires: X-ray diffractometry study
за авторством: Strelchuk, V.V., та інші
Опубліковано: (2005)

The distribution with depth of the parameters of the magnetic microstructure in the epitaxial film of iron-yttrium garnet
за авторством: V. O. Kotsiubynskyi, та інші
Опубліковано: (2014)

Integral multiparameter diffractometry of nanosystems on the basis of effects of multiplicity of diffuse scattering
за авторством: A. P. Shpak, та інші
Опубліковано: (2009)

Possibilities of Diagnostics of Several Types of Crystal Defects Based on the Effect of Different Influence of Defects of Various Types on the Strain Dependence of Total Integrated Intensity of Dynamical Diffraction
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2014)

Influence of ion implantation and annealing on composition and structure of GaAs surface
за авторством: Normuradov, M.T., та інші
Опубліковано: (2002)

Unique informativity of the diffuse dynamical combined diffractometry of materials and products of nanotechnologies
за авторством: A. P. Shpak, та інші
Опубліковано: (2008)

Influence of changes in defect states on the properties of Si–Gd–O photocathode
за авторством: P. V. Melnyk, та інші
Опубліковано: (2017)

Influence of changes in defect states on the properties of Si–Gd–O photocathode
за авторством: P. V. Melnyk, та інші
Опубліковано: (2017)

Influence of technological sol–gel synthesis conditions on process of formation of single-phase polycrystalline iron–yttrium garnet
за авторством: B. K. Ostafiichuk, та інші
Опубліковано: (2014)

Formation of structural heterogeneity of the near-surface layer of films of iron-yttrium granatos by implantation of Si+ ions
за авторством: B. K. Ostafiichuk, та інші
Опубліковано: (2011)

Diffusion model of defect formation in silicon under light ion implantation
за авторством: Voznyy, M.V., та інші
Опубліковано: (2000)

Spectroscopy and micro-luminescence mapping of Xe-implanted defects in diamond
за авторством: Deshko, Y., та інші
Опубліковано: (2010)

Isothermal section of the phase diagram of the Gd—Si—Ga system at 800 °C
за авторством: N. V. Holovata, та інші
Опубліковано: (2013)

The effect of ion implantation on structural damage in compositionally graded AlGaN layers
за авторством: O. I. Liubchenko, та інші
Опубліковано: (2019)

Structural Changes in the GGG Single Crystals Implanted with Ne+ Ions During Natural Ageing
за авторством: B. K. Ostafiichuk, та інші
Опубліковано: (2013)

The effect of ion implantation on structural damage in compositionally graded AlGaN layers
за авторством: Liubchenko, O.I., та інші
Опубліковано: (2019)

Integrated diffractometry: achieved progress and new performance capabilities
за авторством: Lizunov, V.V., та інші
Опубліковано: (2019)

Integrated diffractometry: achieved progress and new performance capabilities
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2019)

Defects and radiation-enhanced defect reactions in ZnSe/(001)GaAs MBE layers
за авторством: Semenova, G.N., та інші
Опубліковано: (2002)

The dispersion sensitivity of scattering pattern to defects depending on thickness of crystalline products of nanotechnologies. I. Theoretical model
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2015)

The dispersion sensitivity of scattering pattern to defects depending on thickness of crystalline products of nanotechnologies. II. Numerical experiment
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2015)

Basic physics of multiparameter crystallography: diagnostics of defects of several types in single-crystal materials and articles of nanotechnologies
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2011)

Ізотермічний переріз діаграми стану системи Gd—Si—Ga при 800 °C
за авторством: Головата, Н.В., та інші
Опубліковано: (2013)