On the Mechanism of X-Ray Amorphous Structure Formation in Ni—W Alloys Films
Збережено в:
Дата: | 2013 |
---|---|
Автори: | T. A. Tochitskij, A. E. Dmitrieva |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2013
|
Назва видання: | Metallophysics and advanced technologies |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000521435 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Effect of Twinning on Formation of Columnar Structure of Crystallites in the Electrolytic Nickel Films
за авторством: T. A. Tochitskij, та інші
Опубліковано: (2013) -
Creep-induced structural changes in Ni-Si-B amorphous alloy
за авторством: Jurikova, A., та інші
Опубліковано: (2008) -
Crystal structure and electrical resistance of Ni-W alloys
за авторством: Derevyanko, V.V., та інші
Опубліковано: (2018) -
X-Ray Spectral Examinations of Amorphous Metallic Fe82Si4B14 Alloy
за авторством: Kh. Kasijanenko, та інші
Опубліковано: (2015) -
Mechanisms of texture formation in thin-film systems Ni₁-xWx | TiN
за авторством: Sungurov, M.S., та інші
Опубліковано: (2018)