Зображення обкладинки

The accuracy of diffraction patterns taken in a diamond-anvil cell using an X-ray diffractometer according to the Dobrovol&#039;skii–Shvedov method

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2013
Автори:	N. V. Novikov, Ju. N. Krivosheja, L. K. Shvedov
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2013
Назва видання:	Superhard Materials
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000695856
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

New automated shear cell with diamond anvils for in situ studies of materials using X-ray diffraction
за авторством: N. V. Novikov, та інші
Опубліковано: (2015)

Combi-cryostat for x-ray diffractometer
за авторством: I. S. Bondar, та інші
Опубліковано: (2017)

Parameters of structured suspension solid phase taken into account in the Oswald-Rayner and Bingame-Shvedov formulas
за авторством: E. V. Semenenko, та інші
Опубліковано: (2015)

Prognostication of the recess anvil HPA container&#039;s material efficiency by the results of the Bridgman anvils tests
за авторством: S. A. Vinogradov
Опубліковано: (2017)

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

X-Ray Diffraction Images of Microscratchings Presented in the Form of Multilane Distributions of Concentrated Forces
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Simulation of the stress-strain state of the container at compression on anvils of a cubic press
за авторством: O. O. Leshchuk, та інші
Опубліковано: (2018)

Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)

Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)

Numerical simulation of the mechanical state of the two-stage multi-anvil high pressure apparatus
за авторством: S. B. Polotniak, та інші
Опубліковано: (2016)

On the use of model diffraction profiles in the microstructure analysis of nanocrystalline metal oxides based on powder x-ray diffraction data
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2022)

Simulation of direction patterns of transmission impulse x–ray tubes
за авторством: N. V. Shinkarenko
Опубліковано: (2015)

X-ray diffraction analysis of the polymorphic transition formed in constant physical fields
за авторством: V. O. Vilenskyi, та інші
Опубліковано: (2014)

The Role of Inhomogeneous Deformation and Correlation of Subsurface Defects in Grazing X-Ray Diffraction
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)

X-ray diffraction and thermal studies on some food and cosmetic bentonite clays
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2019)

Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Scorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

Investigation of the interaction of lithium with n-InSe: spectra of inpedance and X-ray diffraction
за авторством: S. V. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2014)

Research on mechanical stress relaxation in real crystals by X-ray diffraction moire method
за авторством: V. P. Shafraniuk
Опубліковано: (2016)

Research on structural perfection of CdSb thermoelectric materials using Kh-ray diffraction methods
за авторством: V. P. Shafraniuk, та інші
Опубліковано: (2017)

Research on structural perfection of CdSb thermoelectric materials using Kh-ray diffraction methods
за авторством: V. P. Shafranjuk, та інші
Опубліковано: (2017)

Supramolecular organization and electronic structure of perylene tetracarboxylic diimide: X-ray diffraction and theoretical studies
за авторством: Pokropivny, A.
Опубліковано: (2010)

Study of structure perfection of KDP single crystals using the X-ray dynamic diffraction effects
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)

Local deformation in diamond crystals defined by the Fourier transformations of Kikuchi patterns
за авторством: M. D. Borcha, та інші
Опубліковано: (2013)

A strain state in synthetic diamond crystals by the data of electron backscatter diffraction method
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2016)

Interlayer Mn–Mn exchange parameter MnPS3 from x-ray diffraction data
за авторством: K. A. Yagotintsev, та інші
Опубліковано: (2012)

A method of analysis of the shapes of X-ray diffraction lines not requiring a transition to the space of an object
за авторством: N. M. Rozhenko, та інші
Опубліковано: (2019)

X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010)

Unknown Documents of 1734 about Swedish Citizens Taken into Serfdom
за авторством: S. I. Dehtiarov, та інші
Опубліковано: (2019)

On calculation of the rubber lining with material specific behavoir taken into account
за авторством: V. I. Dyrda, та інші
Опубліковано: (2015)

Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data
за авторством: M. D. Borcha, та інші
Опубліковано: (2019)

Crystal structure of dense pseudo-cubic boron allotrope, pc-B52, by powder X-ray diffraction
за авторством: O. O. Kurakevych, та інші
Опубліковано: (2013)

X-ray diffraction method application to assess the energy losses on explosive-rock contact under various blasting
за авторством: I. Kratkovskyi, та інші
Опубліковано: (2020)

Geometrical characteristics of detonation diamond particles by the data of small-angle X-ray scattering
за авторством: A. P. Voznjakovskij, та інші
Опубліковано: (2015)

Dispersion Effects of Interconnection of the Scattering Pattern Dependences on Different Diffraction Conditions and Huge Intensification of These Dependences and Their Structure Sensitivity and Informativeness
за авторством: L. N. Skapa, та інші
Опубліковано: (2015)

Domino phase retrieval algorithm for structure determination using electron diffraction and high resolution transmission electron microscopy patterns
за авторством: Chukhovskii, F.N., та інші
Опубліковано: (2003)

Influence of intensity of heat removal from block-matrices of recessed anvil-type high-pressure apparatus on distribution of temperature in reaction cell
за авторством: V. V. Nagornyj, та інші
Опубліковано: (2017)

X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si(111) and Al2O3(0001) substrates
за авторством: N. V. Safriuk, та інші
Опубліковано: (2013)