The accuracy of diffraction patterns taken in a diamond-anvil cell using an X-ray diffractometer according to the Dobrovol'skii–Shvedov method
Збережено в:
Дата: | 2013 |
---|---|
Автори: | N. V. Novikov, Ju. N. Krivosheja, L. K. Shvedov |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2013
|
Назва видання: | Superhard Materials |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000695856 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
New automated shear cell with diamond anvils for in situ studies of materials using X-ray diffraction
за авторством: N. V. Novikov, та інші
Опубліковано: (2015) -
Combi-cryostat for x-ray diffractometer
за авторством: I. S. Bondar, та інші
Опубліковано: (2017) -
Parameters of structured suspension solid phase taken into account in the Oswald-Rayner and Bingame-Shvedov formulas
за авторством: E. V. Semenenko, та інші
Опубліковано: (2015) -
Prognostication of the recess anvil HPA container's material efficiency by the results of the Bridgman anvils tests
за авторством: S. A. Vinogradov
Опубліковано: (2017) -
Growing and X-ray diffraction pattern of single-crystal double phosphate Li₂Mn(PO₃)₄
за авторством: Nagorny, P.G., та інші
Опубліковано: (2018)