Study of phase transformations in silicon by scanning tunneling spectroscopy and nanoindentation
Збережено в:
| Дата: | 2013 |
|---|---|
| Автори: | O. G. Lysenko, S. N. Dub, V. I. Grushko, E. I. Mitskevich, G. N. Tolmacheva |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
2013
|
| Назва видання: | Superhard Materials |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000695952 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Theoretical study of tunnel current behaviour in scanning probe microscope with diamond tip
за авторством: V. Grushko, та інші
Опубліковано: (2011) -
Study of nanostructured layers of single-crystal silicon by scanning tunnel spectroscopy
за авторством: Kulyk, S.P., та інші
Опубліковано: (2008) -
Assessment of the resolution of scanning tunneling microscope with a tip of a boron-doped diamond
за авторством: O. G. Lysenko, та інші
Опубліковано: (2013) -
Scanning-tunneling microscopy/spectroscopy and break-junction tunneling spectroscopy of FeSe₁–xTex
за авторством: Ekino, T., та інші
Опубліковано: (2013) -
Scanning-tunneling microscopy/spectroscopy and break-junction tunneling spectroscopy of FeSe1-xTex
за авторством: T. Ekino, та інші
Опубліковано: (2013)