Electrophysical characteristics of near-surface layers in p-Si crystals with sputtered Al films and subjected to elastic deformation

Electrophysical characteristics of near-surface layers in p-Si crystals with sputtered Al films and subjected to elastic deformation

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2013
Hauptverfasser:	B. V. Pavlyk, M. O. Kushlyk, R. I. Didyk, Y. A. Shykoriak, D. P. Slobodzian, Ya. Kulyk
Format:	Artikel
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2013
Schriftenreihe:	Ukrainian Journal of Physics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000725574
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