Tensoresistive effect in the system of potential barriers in semiconductor films
Збережено в:
Дата: | 2013 |
---|---|
Автори: | G. Guljamov, A. G. Guljamov, G. N. Mazhidova |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2013
|
Назва видання: | Physical surface engineering |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000928066 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Phase portraits of deformation effects in semiconductors in the pulsed mode
за авторством: M. G. Dadamirzaev, та інші
Опубліковано: (2012) -
The influence of temperature on the width of the forbidden band of a semiconductor
за авторством: G. Guljamov, та інші
Опубліковано: (2011) -
The dependence of the concentration of excess electrons (Δn) from variable strain (ε) in semiconductors
за авторством: G. Guljamov, та інші
Опубліковано: (2014) -
Phase portraits of deformation effects on strain-sensitive Bi2Te3 and Sb2Te3 films
за авторством: Kh. Shamirzaev, та інші
Опубліковано: (2011) -
On the methodology of determining the transverse tensoresistance in multi-valley semiconductors
за авторством: H. P. Haidar
Опубліковано: (2022)