About diffusion mixing in Ag-Pd layered film system
Збережено в:
| Дата: | 2013 |
|---|---|
| Автори: | A. P. Kryshtal, S. I. Bogatyrenko, R. V. Sukhov, A. A. Minenkov |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
2013
|
| Назва видання: | Physical surface engineering |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000929031 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
In Situ TEM Investigation of Homogenization Kinetics of Polycrystalline Ag—Pd Film System
за авторством: A. P. Kryshtal, та інші
Опубліковано: (2014) -
Crystallization of the fusible component in Ag/Bi/Ag and Ag/Pb/Ag layered film systems
за авторством: Dukarov, S.V., та інші
Опубліковано: (2018) -
Influence of the characteristic size on solid-phase solubility in the Ag-Ge film system
за авторством: A. A. Minenkov, та інші
Опубліковано: (2015) -
Melting and crystallization in layered film system Ge-Bi
за авторством: S. I. Bogatyrenko, та інші
Опубліковано: (2004) -
Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films
за авторством: Severynov, V.L., та інші
Опубліковано: (2005)