Current transport mechanisms in metal - high-k dielectric - silicon structures
Збережено в:
| Дата: | 2012 |
|---|---|
| Автор: | Y. V. Gomeniuk |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2012
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000350130 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Determination of interface state density in high-k dielectric-silicon system from conductance-frequency measurements
за авторством: Yu. V. Gomeniuk
Опубліковано: (2012)
за авторством: Yu. V. Gomeniuk
Опубліковано: (2012)
Peculiarities of current transport in titanium oxide-silicon heterostructures
за авторством: Yu. S. Milovanov, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Yu. S. Milovanov, та інші
Опубліковано: (2012)
Peculiarities of current transport in titanium oxide-silicon heterostructures
за авторством: Yu. S. Milovanov, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Yu. S. Milovanov, та інші
Опубліковано: (2012)
Influence of the electroneutrality of a metal layer on the plasmon spectrum in dielectric–metal–dielectric structures
за авторством: P. P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: P. P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2019)
Surface plasmon polaritons in dielectric/metal/dielectric structures: metal layer thickness influence
за авторством: P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2019)
Dual model describing effects of evaporated metal gate on low-k dielectric methylsilsesquioxane in metal oxide semiconductor capacitor structure
за авторством: Aw, K.C., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Aw, K.C., та інші
Опубліковано: (2003)
Photoconductivity relaxation and electron transport in macroporous silicon structures
за авторством: L. A. Karachevtseva, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: L. A. Karachevtseva, та інші
Опубліковано: (2017)
Size Dependence of Mechanical Stresses in the Metal Condensates on Silicon
за авторством: B. P. Koman, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: B. P. Koman, та інші
Опубліковано: (2014)
An Antenna Based on a Hybrid Metal–Dielectric Structure
за авторством: D. V. Maiboroda, та інші
Опубліковано: (2021)
за авторством: D. V. Maiboroda, та інші
Опубліковано: (2021)
AN ANTENNA BASED ON A HYBRID METAL–DIELECTRIC STRUCTURE
за авторством: Mayboroda, D. V., та інші
Опубліковано: (2021)
за авторством: Mayboroda, D. V., та інші
Опубліковано: (2021)
Investigation of the effect of potential barriers on mechanisms current transfer in meetings of two-barrier silicon structures
за авторством: O. A. Abdulkhaev, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: O. A. Abdulkhaev, та інші
Опубліковано: (2011)
Quantum phonon transport in 3D metal–dielectric point polycontacts with strong lattice distortions
за авторством: Feher, A., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Feher, A., та інші
Опубліковано: (2007)
Nonlinear analysis of mm waves excitation by high–current REВ in dielectric resonator
за авторством: Galaydych, K.V., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Galaydych, K.V., та інші
Опубліковано: (2012)
Electromagnetic Waves of a Planar Layered Metal-Dielectric Structure
за авторством: Vidil, M. J., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Vidil, M. J., та інші
Опубліковано: (2012)
Mechanical strain in the structure of array of silicon nanowires grown on a silicon substrate
за авторством: A. I. Klimovskaya, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: A. I. Klimovskaya, та інші
Опубліковано: (2019)
Features of planar metal/dielectric nanowaveguides
за авторством: V. M. Fitio, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: V. M. Fitio, та інші
Опубліковано: (2020)
Slow and fast lights in metal/dielectric composite of cylindrical nanoinclusions in passive and active linear dielectric host matrices
за авторством: Y. A. Abbo
Опубліковано: (2021)
за авторством: Y. A. Abbo
Опубліковано: (2021)
Slow and fast lights in metal/dielectric composite of cylindrical nanoinclusions in passive and active linear dielectric host matrices
за авторством: Y. A. Abbo
Опубліковано: (2021)
за авторством: Y. A. Abbo
Опубліковано: (2021)
Photoelectric properties of metal-porous silicon-silicon planar heterostructures
за авторством: Brodovoi, A.V., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Brodovoi, A.V., та інші
Опубліковано: (2002)
Methods and mechanisms of gettering of silicon structures in the production of integrated circuits
за авторством: V. A. Pilipenko, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: V. A. Pilipenko, та інші
Опубліковано: (2013)
Reverse current-voltage characteristics and carrier transport mechanisms in InAs photodi-odes
за авторством: A. V. Sukach, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: A. V. Sukach, та інші
Опубліковано: (2011)
Concentration dependences of dielectric parameters of impurity-doped K2SO4 crystals
за авторством: V. Y. Stadnyk, та інші
Опубліковано: (2022)
за авторством: V. Y. Stadnyk, та інші
Опубліковано: (2022)
Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
за авторством: A. L. Yampolskiy, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: A. L. Yampolskiy, та інші
Опубліковано: (2018)
Fractographic features of hydrogen transport mechanisms in structural steels
за авторством: H. V. Krechkovska
Опубліковано: (2015)
за авторством: H. V. Krechkovska
Опубліковано: (2015)
The role of surface-charge transport in electrohydrodynamics and electromechanics of a dielectric sphere
за авторством: V. V. Datsyuk, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: V. V. Datsyuk, та інші
Опубліковано: (2020)
The role of surface-charge transport in electrohydrodynamics and electromechanics of a dielectric sphere
за авторством: V. V. Datsyuk, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: V. V. Datsyuk, та інші
Опубліковано: (2020)
Mechanism of adsorption-catalytic activity at the nanostructured surface of silicon doped with clusters of transition metals and their oxides
за авторством: V. G. Litovchenko, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: V. G. Litovchenko, та інші
Опубліковано: (2017)
Mechanism of adsorption-catalytic activity at the nanostructured surface of silicon doped with clusters of transition metals and their oxides
за авторством: V. H. Lytovchenko, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: V. H. Lytovchenko, та інші
Опубліковано: (2017)
Experimentally Investigated Electromagnetic Wave Propagation and Radiation in a Modified Metal-Dielectric Structure
за авторством: Mayboroda, D. V., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Mayboroda, D. V., та інші
Опубліковано: (2013)
Current waveforms for pulse microdischarge inside dielectric cell
за авторством: Kelnyk, O.I., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Kelnyk, O.I., та інші
Опубліковано: (2010)
Voids' layer structures in silicon irradiated with high doses of high-energy helium ions
за авторством: M. I. Starchyk, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: M. I. Starchyk, та інші
Опубліковано: (2015)
Mechanisms of forward current transport in p-GaSe-n-InSe heterojunctions
за авторством: Kovalyuk, Z.D., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Kovalyuk, Z.D., та інші
Опубліковано: (2003)
Thermodynamic and adhesive parameters of nanolayers in the system "metal-dielectric"
за авторством: Yuzevych, V.M., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Yuzevych, V.M., та інші
Опубліковано: (2018)
Influence of K+ ions and superstoichiometric manganese on structure defects, magneto-transport and dielectric properties of magnetoresistance La0.7Ca0.3–xKxMn1+xO3–δ ceramics
за авторством: N. A. Ledenev, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: N. A. Ledenev, та інші
Опубліковано: (2017)
Formation of a layered structure of a metal strengthening zone under irradiation with the pulsed high-current electron beam
за авторством: Kolyada, Yu.E.
Опубліковано: (2001)
за авторством: Kolyada, Yu.E.
Опубліковано: (2001)
Concentration dependences of dielectric parameters of impurity-doped K2SO4 crystals
за авторством: Yo. Stadnyk, та інші
Опубліковано: (2022)
за авторством: Yo. Stadnyk, та інші
Опубліковано: (2022)
Switching of current and voltage when heating non-transition polycrystalline silicon doped with alkali metals in the region of grain boundaries
за авторством: L. O. Olimov, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: L. O. Olimov, та інші
Опубліковано: (2014)
Varistor-like current-voltage characteristic of porous silicon
за авторством: Vakulenko, O.V., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Vakulenko, O.V., та інші
Опубліковано: (1999)
Temperature field of metal structures of transport facilities with a thin protective coating
за авторством: B. Gera, та інші
Опубліковано: (2022)
за авторством: B. Gera, та інші
Опубліковано: (2022)
Cavitation resistance of metal coatings deposited by a high-current relativistic electron beam
за авторством: Ju. F. Lonin, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Ju. F. Lonin, та інші
Опубліковано: (2010)
Схожі ресурси
-
Determination of interface state density in high-k dielectric-silicon system from conductance-frequency measurements
за авторством: Yu. V. Gomeniuk
Опубліковано: (2012) -
Peculiarities of current transport in titanium oxide-silicon heterostructures
за авторством: Yu. S. Milovanov, та інші
Опубліковано: (2012) -
Peculiarities of current transport in titanium oxide-silicon heterostructures
за авторством: Yu. S. Milovanov, та інші
Опубліковано: (2012) -
Influence of the electroneutrality of a metal layer on the plasmon spectrum in dielectric–metal–dielectric structures
за авторством: P. P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2019) -
Surface plasmon polaritons in dielectric/metal/dielectric structures: metal layer thickness influence
за авторством: P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2019)