Стиль цитування APA (7-ме видання)

Bacherikov, Y. Y., Boltovets, N. S., Konakova, R. V., Kolyadina, Y., Lednova, T. M., & Okhrimenko, O. B. (2012). Interface features of SiO2/SiC heterostructures according to methods for producing the SiO2 thin films.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Bacherikov, Yu. Yu., N. S. Boltovets, R. V. Konakova, Yu Kolyadina, T. M. Lednova, та O. B. Okhrimenko. Interface Features of SiO2/SiC Heterostructures According to Methods for Producing the SiO2 Thin Films. 2012.

Стиль цитування MLA (8-ме видання)

Bacherikov, Yu. Yu., et al. Interface Features of SiO2/SiC Heterostructures According to Methods for Producing the SiO2 Thin Films. 2012.