Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO2 substrate
Gespeichert in:
| Datum: | 2012 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | E. G. Bortchagovsky, V. Z. Lozovski, T. O. Mishakova, K. Hingerl |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2012
|
| Schriftenreihe: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
| Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000350392 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Institution
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASÄhnliche Einträge
-
Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO₂ substrate
von: Bortchagovsky, E.G., et al.
Veröffentlicht: (2012) -
Interface features of SiO₂/SiC heterostructures according to methods for producing the SiO₂ thin films
von: Bacherikov, Yu.Yu., et al.
Veröffentlicht: (2012) -
Conductivity of the Bi₁₂SiO₂₀ thin films
von: Plyaka, S.N., et al.
Veröffentlicht: (1999) -
Interface features of SiO2/SiC heterostructures according to methods for producing the SiO2 thin films
von: Yu. Yu. Bacherikov, et al.
Veröffentlicht: (2012) -
Anti-reflection coatings based on SnO₂, SiO₂, Si₃N₄ films for photodiodes operating in ultraviolet and visible spectral ranges
von: Dobrovolskiy, Yu.G., et al.
Veröffentlicht: (2011)