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Influence of elastic deformation on local current characteristics of separate Ge nanoclusters on Si investigated by conducting atomic force microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2012
1. Verfasser:	Ju. Rubezhanskaja
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2012
Schriftenreihe:	Surface
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000516431
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