Electromigration degradation model of metal oxide varistor structures
Збережено в:
| Дата: | 2012 |
|---|---|
| Автори: | A. V. Ivanchenko, A. S. Tonkoshkur |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
2012
|
| Назва видання: | Ukrainian journal of physics |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000678380 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Electromigration degradation model of metal oxide varistor structures
за авторством: O. V. Ivanchenko, та інші
Опубліковано: (2012) -
Kinetics deformation of current-voltage characteristics of the varistor oxide structures due to overcharging of the localized states
за авторством: A. S. Tonkoshkur, та інші
Опубліковано: (2014) -
Electromigration effects at epitaxial growth of thin films: Phase-field modeling
за авторством: A. V. Dvornichenko
Опубліковано: (2021) -
Electromigration effects at epitaxial growth of thin films: Phase-field modeling
за авторством: A. V. Dvornychenko
Опубліковано: (2021) -
Influence of sintering time on the microstructure and electric properties of low-voltage Zinc oxide-based varistor ceramics
за авторством: Ju. Ljashkov
Опубліковано: (2014)