Scanning Helium ion microscope
Збережено в:
Дата: | 2012 |
---|---|
Автор: | Ju. V. Petrov |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2012
|
Назва видання: | Science and innovation |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000740631 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Mutual friction in helium II: a microscopic approach
за авторством: Cataldo, H.M.
Опубліковано: (2009) -
Theoretical study of tunnel current behaviour in scanning probe microscope with diamond tip
за авторством: V. Grushko, та інші
Опубліковано: (2011) -
Multifunction Scanning Probe Microscope with Diamond Tip. Nanotechnological Research at Ambient Conditions
за авторством: O. H. Lysenko
Опубліковано: (2012) -
Microscopic construction of the two-fluid model for superfluid helium-4
за авторством: Shygorin, P., та інші
Опубліковано: (2009) -
Assessment of the resolution of scanning tunneling microscope with a tip of a boron-doped diamond
за авторством: O. G. Lysenko, та інші
Опубліковано: (2013)