Chapon, P., & Kostenko, O. K. (2012). Characterisation of Element Distribution in Films and Coatings with RF GDOES and TOFMS™ Methods.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Chapon, P., та O. K. Kostenko. Characterisation of Element Distribution in Films and Coatings with RF GDOES and TOFMS™ Methods. 2012.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Chapon, P., та O. K. Kostenko. Characterisation of Element Distribution in Films and Coatings with RF GDOES and TOFMS™ Methods. 2012.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.