Characterisation of Element Distribution in Films and Coatings with RF GDOES and TOFMS™ Methods
Збережено в:
Дата: | 2012 |
---|---|
Автори: | P. Chapon, O. K. Kostenko |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2012
|
Назва видання: | Science and innovation |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000740633 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™
за авторством: Чапон, П., та інші
Опубліковано: (2012) -
The investigation of RF discharge in the procession-plasma method by coating films
за авторством: V. I. Gritsenko, та інші
Опубліковано: (2003) -
Synthesis and characterisation of nanocrystalline ZrN PVD coatings on AISI 430 stainless steel
за авторством: Taran, A.V., та інші
Опубліковано: (2019) -
Characterisation of Mo–V–N Coatings Deposited on XC100 Substrate by Sputtering Cathodic Magnetron
за авторством: Chermime, Brahim, та інші
Опубліковано: (2017) -
Characterisation of dislocation behaviour in RPV steel
за авторством: Monnet, G., та інші
Опубліковано: (2009)