Characterisation of Element Distribution in Films and Coatings with RF GDOES and TOFMS™ Methods
Gespeichert in:
| Datum: | 2012 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | P. Chapon, O. K. Kostenko |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2012
|
| Schriftenreihe: | Science and innovation |
| Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000740633 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Institution
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASÄhnliche Einträge
-
Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™
von: Чапон, П., et al.
Veröffentlicht: (2012) -
The investigation of RF discharge in the procession-plasma method by coating films
von: V. I. Gritsenko, et al.
Veröffentlicht: (2003) -
Synthesis and characterisation of nanocrystalline ZrN PVD coatings on AISI 430 stainless steel
von: Taran, A.V., et al.
Veröffentlicht: (2019) -
Characterisation of Mo–V–N Coatings Deposited on XC100 Substrate by Sputtering Cathodic Magnetron
von: Chermime, Brahim, et al.
Veröffentlicht: (2017) -
Characterisation of dislocation behaviour in RPV steel
von: Monnet, G., et al.
Veröffentlicht: (2009)