Transmission Electron Microscopy Past and Present: Pushing the Limits of Cognition
Збережено в:
Дата: | 2012 |
---|---|
Автори: | A. G. Derzhipolskij, D. A. Melenevskij |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2012
|
Назва видання: | Science and innovation |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000740634 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Transmission electron microscopy for the direct analysis of fibrin clot structure
за авторством: Y. P. Kucheriavyi, та інші
Опубліковано: (2023) -
Electronic Industry in Ukraine: Past, Present, Future
за авторством: V. A. Romanenko
Опубліковано: (2013) -
Phage detection in the rhizosphere of higher antarctic plants using transmission electron microscopy
за авторством: Mas, O., та інші
Опубліковано: (2013) -
Domino phase retrieval algorithm for structure determination using electron diffraction and high resolution transmission electron microscopy patterns
за авторством: Chukhovskii, F.N., та інші
Опубліковано: (2003) -
Paradoxes of identity: the past and the present
за авторством: O. Yosypenko
Опубліковано: (2019)