Structural transformation in C/Si multilayer after annealing
Збережено в:
| Дата: | 2012 |
|---|---|
| Автори: | I. O. Zhuravel, Ye. A. Bugayev, L. E. Konotopsky, E. M. Zubarev, V. A. Sevryukova, V. V. Kondratenko |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2012
|
| Назва видання: | Physical surface engineering |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000906907 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Evolution of structure and mechanism of thermal decomposition of C/Si multilayers
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2014)
Nanoscale Co/C multilayers for "carbon window" Schwarzchild objective
за авторством: Bugayev, Ye.A., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Bugayev, Ye.A., та інші
Опубліковано: (2007)
Change of Structure and Optical Properties of Multilayer C/Si X-Ray Mirrors under Heating
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2013)
Structure and mechanical stresses in TaSi₂/Si multilayer
за авторством: Devizenko, A.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Devizenko, A.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
Structural-phase transformations in multilayer periodic compositions W-B4C with a period of 2.5 nm with heating
за авторством: I. A. Kopylets, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: I. A. Kopylets, та інші
Опубліковано: (2011)
Study of postimplantation annealing of SiC
за авторством: Avramenko, S.F., та інші
Опубліковано: (2001)
за авторством: Avramenko, S.F., та інші
Опубліковано: (2001)
Thermal annealing and evolution of defects in neutron-irradiated cubic SiC
за авторством: Bratus, V.Ya., та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Bratus, V.Ya., та інші
Опубліковано: (2015)
Transformation of SiOx films into nanocomposite SiO2(Si) films under thermal and laser annealing
за авторством: O. V. Steblova, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: O. V. Steblova, та інші
Опубліковано: (2014)
Variation of optical parameters of multilayer structures with thin silicon layers at laser annealing
за авторством: Okhrimenko, O.B.
Опубліковано: (2014)
за авторством: Okhrimenko, O.B.
Опубліковано: (2014)
Variation of optical parameters of multilayer structures with thin silicon layers at laser annealing
за авторством: O. B. Okhrimenko
Опубліковано: (2014)
за авторством: O. B. Okhrimenko
Опубліковано: (2014)
Thermal annealing and evolution of defects in neutron-irradiated cubic SiC
за авторством: Ya. Bratus, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Ya. Bratus, та інші
Опубліковано: (2015)
Investigation of the structure of interlayer interfaces in multilayer periodic compositions of Cr/Sc and Co/C by the method X-ray diffuse scattering
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2011)
Initial stages of intermixing in Mo/Si multilayer coatings during He ion irradiation
за авторством: D. L. Voronov, та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: D. L. Voronov, та інші
Опубліковано: (2004)
Comparison of properties inherent to thin titanium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC and porous SiC substrates
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2018)
Quantum effects in multilayer Si-Ge nanoheterostructures
за авторством: Kozyrev, Yu.N., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Kozyrev, Yu.N., та інші
Опубліковано: (2008)
Optical properties of thin erbium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC substrates with different structures
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2017)
Investigation of the Phase Interfaces in Periodic Multilayer Mo/Si Structures, Using the Method of Mass-Spectrometry of Neutral Particles
за авторством: Ju. P. Pershin, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Ju. P. Pershin, та інші
Опубліковано: (2013)
Influence of conditions of deposition and annealing on a nanohardness of amorphous Si–C–N films
за авторством: O. K. Porada
Опубліковано: (2015)
за авторством: O. K. Porada
Опубліковано: (2015)
Structure perfection variations of Si crystals grown by Czochralski or floating zone methods after implantation of oxygen or neon atoms followed by annealing
за авторством: Datsenko, L.I., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Datsenko, L.I., та інші
Опубліковано: (1999)
Thin dysprosium oxide films formed by rapid thermal annealing on porous SiC substrates
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2018)
The structural-phase composition in CoSb1,82-5,45 (30 nm)-SiO2 (100 nm)-Si (001) nanoscaled film compositions after deposition and annealings
за авторством: Ju. N. Makogon, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Ju. N. Makogon, та інші
Опубліковано: (2010)
Structural properties of nanocomposite SiO2(Si) films obtained by ion-plasma sputtering and thermal annealing
за авторством: O. L. Bratus, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: O. L. Bratus, та інші
Опубліковано: (2011)
Multilayer periodic compositions of ZrC/Mg for a wavelength of 30.4 nm
за авторством: L. E. Konotopskij, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: L. E. Konotopskij, та інші
Опубліковано: (2015)
Homogeneity estimation morphometric model for particle distribution on example of SiC deposited on multilayer structure Fe/NiP
за авторством: T. Komenda, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: T. Komenda, та інші
Опубліковано: (2012)
Electrical properties of semiconductor structures with Si nanoclusters in SiO₂ grown by high temperature annealing technology of SiOx layer, X<2
за авторством: Bunak, S.V., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Bunak, S.V., та інші
Опубліковано: (2010)
Investigation of the abrasive durability of the multilayer diamond-like coatings for the ring-shaped dry gaseous seals made of SiC
за авторством: Vasyliev, V.V., та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Vasyliev, V.V., та інші
Опубліковано: (2019)
Temperature and laser annealing of nonstoichiometric SiOx films
за авторством: O. O. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: O. O. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2013)
Evolution of the structure of Mo films obtained by magnetron sputtering on a-Si
за авторством: V. A. Sevrjukova, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: V. A. Sevrjukova, та інші
Опубліковано: (2011)
Ferromagnetic nanoclusters in Si:Mn and GaMnAs annealed at high temperature–pressure
за авторством: Bak-Misiuk, J., та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: Bak-Misiuk, J., та інші
Опубліковано: (2009)
Ferromagnetic nanoclusters in Si:Mn and GaMnAs annealed at high temperature-pressure
за авторством: J. Bak-Misiuk, та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: J. Bak-Misiuk, та інші
Опубліковано: (2009)
Structure of photoluminescence DL-spectra and phase transformation in lightly doped SiC crystals and films
за авторством: S. I. Vlaskina, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: S. I. Vlaskina, та інші
Опубліковано: (2015)
Mechanism of 6H-3C transformation in SiC
за авторством: Vlaskina, S.I.
Опубліковано: (2002)
за авторством: Vlaskina, S.I.
Опубліковано: (2002)
3C-6H transformation in heated cubic silicon carbide 3C-SiC
за авторством: S. I. Vlaskina, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: S. I. Vlaskina, та інші
Опубліковано: (2011)
Electrical properties of semiconductor structures with Si nanoclusters in SiO2 grown by high temperature annealing technology of SiOX layer, X&lt;2
за авторством: S. V. Bunak, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: S. V. Bunak, та інші
Опубліковано: (2010)
Commensurate vortex lattices and oscillation effects in superconducting Mo/Si and W/Si multilayers
за авторством: Mikhailov, M.Yu., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Mikhailov, M.Yu., та інші
Опубліковано: (2005)
Physical Mechanisms of SiO2 Target Sputtering with Accelerated Ions of C60
за авторством: M. V. Maleev, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: M. V. Maleev, та інші
Опубліковано: (2015)
Martensitic transformation at formation of system of nanoparticles in a Cu–Al–Mn alloy after annealing in a magnetic field
за авторством: A. M. Titenko, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: A. M. Titenko, та інші
Опубліковано: (2014)
Effect of low-temperature annealing on light-emitting properties of na-Si/SiOx porous nanocomposite films
за авторством: I. P. Lisovskyy, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: I. P. Lisovskyy, та інші
Опубліковано: (2011)
Effect of low-temperature annealing on light-emitting properties of na-Si/SiOx porous nanocomposite films
за авторством: Lisovskyy, I.P., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Lisovskyy, I.P., та інші
Опубліковано: (2011)
Study of the distribution of temperature profiles in nonstoichiometric SiOx films at laser annealing
за авторством: O. O. Gavrylyuk, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: O. O. Gavrylyuk, та інші
Опубліковано: (2014)
Схожі ресурси
-
Evolution of structure and mechanism of thermal decomposition of C/Si multilayers
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2014) -
Nanoscale Co/C multilayers for "carbon window" Schwarzchild objective
за авторством: Bugayev, Ye.A., та інші
Опубліковано: (2007) -
Change of Structure and Optical Properties of Multilayer C/Si X-Ray Mirrors under Heating
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2013) -
Structure and mechanical stresses in TaSi₂/Si multilayer
за авторством: Devizenko, A.Yu., та інші
Опубліковано: (2018) -
Structural-phase transformations in multilayer periodic compositions W-B4C with a period of 2.5 nm with heating
за авторством: I. A. Kopylets, та інші
Опубліковано: (2011)