Structural transformation in C/Si multilayer after annealing

Structural transformation in C/Si multilayer after annealing

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2012
Автори:	I. O. Zhuravel, Ye. A. Bugayev, L. E. Konotopsky, E. M. Zubarev, V. A. Sevryukova, V. V. Kondratenko
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	2012
Назва видання:	Physical surface engineering
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000906907
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Structural transformation in C/Si multilayer after annealing
за авторством: Zhuravel, I.O., та інші
Опубліковано: (2012)

Structural transformation in Zr/Mg multilayer on Si substrate after annealing
за авторством: Konotopsky, L.E., та інші
Опубліковано: (2017)

Structural transformation in Zr/Mg multilayer on Si substrate after annealing
за авторством: Konotopsky, L.E., та інші
Опубліковано: (2018)

Formation and evolution of intermixing zones in C/Si multilayer under heating
за авторством: Zhuravel, I.A., та інші
Опубліковано: (2014)

Evolution of structure and mechanism of thermal decomposition of C/Si multilayers
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2014)

Nanoscale Co/C multilayers for "carbon window" Schwarzchild objective
за авторством: Bugayev, Ye.A., та інші
Опубліковано: (2007)

Change of Structure and Optical Properties of Multilayer C/Si X-Ray Mirrors under Heating
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2013)

Structure and mechanical stresses in TaSi₂/Si multilayer
за авторством: Devizenko, A.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)

Structural-phase transformations in multilayer periodic compositions W-B4C with a period of 2.5 nm with heating
за авторством: I. A. Kopylets, та інші
Опубліковано: (2011)

Ellipsometric evidence of CoSi₂ formation in Co/Si multilayer induced by thermal annealing
за авторством: Kudryavtsev, Y.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Growth and structure of WC/Si multilayer x-ray mirror
за авторством: Pershyn, Y.P., та інші
Опубліковано: (2018)

Study of postimplantation annealing of SiC
за авторством: Avramenko, S.F., та інші
Опубліковано: (2001)

Initial stages of diffusion and phase formation in Sc/Si layered systems
за авторством: Voronov, D.L., та інші
Опубліковано: (2008)

Features of diffusion mixing in Mo/Si multilayers
за авторством: Penkov, A.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Evolution of structural and electrophysical parameters of Ni/SiC contacts at rapid thermal annealing
за авторством: Litvinov, V.L., та інші
Опубліковано: (2002)

Transformation of SiOx films into nanocomposite SiO₂(Si) films under thermal and laser annealing
за авторством: Steblova, O.V., та інші
Опубліковано: (2014)

Investigation of the structure of interlayer interfaces in multilayer periodic compositions of Cr/Sc and Co/C by the method X-ray diffuse scattering
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2011)

Transformation of SiOx films into nanocomposite SiO2(Si) films under thermal and laser annealing
за авторством: O. V. Steblova, та інші
Опубліковано: (2014)

Variation of optical parameters of multilayer structures with thin silicon layers at laser annealing
за авторством: Okhrimenko, O.B.
Опубліковано: (2014)

Variation of optical parameters of multilayer structures with thin silicon layers at laser annealing
за авторством: O. B. Okhrimenko
Опубліковано: (2014)

Initial stages of intermixing in Mo/Si multilayer coatings during He ion irradiation
за авторством: D. L. Voronov, та інші
Опубліковано: (2004)

Thermal annealing and evolution of defects in neutron-irradiated cubic SiC
за авторством: Bratus, V.Ya., та інші
Опубліковано: (2015)

Quantum effects in multilayer Si-Ge nanoheterostructures
за авторством: Kozyrev, Yu.N., та інші
Опубліковано: (2008)

Thermal annealing and evolution of defects in neutron-irradiated cubic SiC
за авторством: Ya. Bratus, та інші
Опубліковано: (2015)

Investigation of the Phase Interfaces in Periodic Multilayer Mo/Si Structures, Using the Method of Mass-Spectrometry of Neutral Particles
за авторством: Ju. P. Pershin, та інші
Опубліковано: (2013)

Comparison of properties inherent to thin titanium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC and porous SiC substrates
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2018)

Structure perfection variations of Si crystals grown by Czochralski or floating zone methods after implantation of oxygen or neon atoms followed by annealing
за авторством: Datsenko, L.I., та інші
Опубліковано: (1999)

Structural properties of nanocomposite SiO₂(Si) films obtained by ion-plasma sputtering and thermal annealing
за авторством: Bratus, O.L., та інші
Опубліковано: (2011)

Optical properties of thin erbium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC substrates with different structures
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2017)

The structural-phase composition in CoSb1,82-5,45 (30 nm)-SiO2 (100 nm)-Si (001) nanoscaled film compositions after deposition and annealings
за авторством: Ju. N. Makogon, та інші
Опубліковано: (2010)

Multilayer periodic compositions of ZrC/Mg for a wavelength of 30.4 nm
за авторством: L. E. Konotopskij, та інші
Опубліковано: (2015)

Structural-phase transformations in magnetron deposited films of Ti-Zr-Ni systems during annealing in vacuum
за авторством: Malykhin, S.V., та інші
Опубліковано: (2022)

Structural properties of nanocomposite SiO2(Si) films obtained by ion-plasma sputtering and thermal annealing
за авторством: O. L. Bratus, та інші
Опубліковано: (2011)

Thin dysprosium oxide films formed by rapid thermal annealing on porous SiC substrates
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2018)

Influence of conditions of deposition and annealing on a nanohardness of amorphous Si–C–N films
за авторством: O. K. Porada
Опубліковано: (2015)

Magnetic and resonance properties of multilayer (Gd/Si/Co/Si)ₙ films
за авторством: Patrin, G.S., та інші
Опубліковано: (2004)

Investigation of the abrasive durability of the multilayer diamond-like coatings for the ring-shaped dry gaseous seals made of SiC
за авторством: Vasyliev, V.V., та інші
Опубліковано: (2019)

Electrical properties of semiconductor structures with Si nanoclusters in SiO₂ grown by high temperature annealing technology of SiOx layer, X<2
за авторством: Bunak, S.V., та інші
Опубліковано: (2010)

Homogeneity estimation morphometric model for particle distribution on example of SiC deposited on multilayer structure Fe/NiP
за авторством: T. Komenda, та інші
Опубліковано: (2012)

Homogeneity estimation morphometric model for particle distribution on example of SiC deposited on multilayer structure Fe/NiP
за авторством: Komenda, T., та інші
Опубліковано: (2012)