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Investigation of the saturation effect of the drain current of a field-effect transistor with series-connected channels

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2012
Hauptverfasser:	A. V. Karimov, D. M. Jodgorova, O. A. Abdulkhaev, E. N. Jakubov, Sh. Sh. Juldashev, A. A. Turaev
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2012
Schriftenreihe:	Physical surface engineering
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000908768
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