The influence of the magnetron sputtering regime and the composition of the reaction gas on the structure and properties of ITO films
Gespeichert in:
| Datum: | 2012 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | A. I. Bazhin, A. N. Trotsan, S. V. Chertopalov, A. A. Stipanenko, V. A. Stupak |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2012
|
| Schriftenreihe: | Physical surface engineering |
| Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000908769 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Institution
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASÄhnliche Einträge
-
Features of high-current pulsed regimes in regimes in magnetron sputtering systems
von: Bizyukov, A.A., et al.
Veröffentlicht: (2005) -
Twinning in fullerite films under ion irradiation with argon
von: A. I. Bazhin, et al.
Veröffentlicht: (2011) -
The influence of physical and technological magnetron sputtering modes on the structure and optical properties of CdS and CdTe films
von: G. S. Khrypunov, et al.
Veröffentlicht: (2017) -
Stydy on resistivity and micostructure of magnetron sputtered α-C:Si films
von: Onoprienko, A.A., et al.
Veröffentlicht: (2006) -
Structure of tantalum diboride thin films deposited by RF-magnetron sputtering
von: Konovalov, V.A., et al.
Veröffentlicht: (2008)