Effect of buffer layer of porous silicon carbide on the interface with the oxide layer (review)
Збережено в:
Дата: | 2012 |
---|---|
Автор: | O. B. Okhrimenko |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2012
|
Назва видання: | Optoelectronics and Semiconductor Technique |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001287274 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Functionalization and nanostructurization of surface layers of porous silicon
за авторством: Ye. I. Zubko
Опубліковано: (2013) -
Post-anodic formation of luminescent porous silicon layers in atmospheric environment
за авторством: Makara, V.A., та інші
Опубліковано: (2005) -
Electrical properties of silicon-oxide heterostructures on the basis of porous silicon
за авторством: I. B. Olenych, та інші
Опубліковано: (2017) -
Electrical properties of silicon-oxide heterostructures on the basis of porous silicon
за авторством: I. B. Olenych, та інші
Опубліковано: (2017) -
Effect of pressure on the electrophysical properties of the interface layer of heterocontacts based on layered crystals
за авторством: M. O. Vorobets
Опубліковано: (2008)