Schottky contact degradation at thermal annealing
Збережено в:
| Дата: | 2012 |
|---|---|
| Автори: | E. F. Venger, I. Gotovy, L. V. Shekhovtsov |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2012
|
| Назва видання: | Optoelectronics and Semiconductor Technique |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001287281 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Lateral photo-emf in Schottky contact
за авторством: E. F. Venger, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: E. F. Venger, та інші
Опубліковано: (2010)
Lateral photo-emf in a nonuniform Schottky contact
за авторством: E. F. Venger, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: E. F. Venger, та інші
Опубліковано: (2011)
Effect of rapid thermal annealing on properties of contacts Au-Mo-TiBx-GaAs
за авторством: Venger, E.F., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Venger, E.F., та інші
Опубліковано: (1999)
Schottky-barrier Au–TiBx–n-GaN contacts
за авторством: Ya. Kudryk
Опубліковано: (2015)
за авторством: Ya. Kudryk
Опубліковано: (2015)
Model studies of degradation mechanisms of thermoelectric materials and near-contact structures
за авторством: L. I. Anatychuk, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: L. I. Anatychuk, та інші
Опубліковано: (2017)
Model studies of degradation mechanisms of thermoelectric materials and near-contact structures
за авторством: L. I. Anatychuk, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: L. I. Anatychuk, та інші
Опубліковано: (2017)
Simulation of combined Schottky diode
за авторством: Ye. M. Kiselov
Опубліковано: (2013)
за авторством: Ye. M. Kiselov
Опубліковано: (2013)
Simulation of combined schottky diode
за авторством: Кісельов, Єгор Миколайович
Опубліковано: (2015)
за авторством: Кісельов, Єгор Миколайович
Опубліковано: (2015)
Simulation of combined schottky diode
за авторством: Кісельов, Єгор Миколайович
Опубліковано: (2015)
за авторством: Кісельов, Єгор Миколайович
Опубліковано: (2015)
Phase transitions in thermally annealed films of Alq3
за авторством: G. Baldacchini, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: G. Baldacchini, та інші
Опубліковано: (2012)
Thermal stresses of functionally gradient bodies under annealing
за авторством: M. H. Stashchuk, та інші
Опубліковано: (2021)
за авторством: M. H. Stashchuk, та інші
Опубліковано: (2021)
Surface reconstruction of polycrystalline gold films under the influence of thermal annealing
за авторством: E. V. Kostjukevich, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: E. V. Kostjukevich, та інші
Опубліковано: (2013)
Improvement of the reverse characteristics of Schottky diodes using gettering
за авторством: Litvinenko, V.N., та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Litvinenko, V.N., та інші
Опубліковано: (2019)
Improvement of the reverse characteristics of Schottky diodes using gettering
за авторством: V. N. Litvinenko, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: V. N. Litvinenko, та інші
Опубліковано: (2019)
Self-organization in irradiated semiconductor crystals caused by thermal annealing
за авторством: M. Zavada, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: M. Zavada, та інші
Опубліковано: (2018)
Self-organization in irradiated semiconductor crystals caused by thermal annealing
за авторством: Zavada, M., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Zavada, M., та інші
Опубліковано: (2018)
Degradation of phenolic compounds in water by non-thermal plasma treatment
за авторством: Cheng Hsu-Hui, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Cheng Hsu-Hui, та інші
Опубліковано: (2012)
Nonlinear Analysis of Millimeter-Wave Schottky Diode Mixers
за авторством: Piddyachiy, V. I., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Piddyachiy, V. I., та інші
Опубліковано: (2013)
The impact of low temperature thermal annealing on optical properties of thin composite films
за авторством: Gorbov, I. V., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Gorbov, I. V., та інші
Опубліковано: (2014)
Effect of thermal annealing on electrical and photoelectrical properties of n-InSb
за авторством: S. V. Stariy, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: S. V. Stariy, та інші
Опубліковано: (2017)
Effect of thermal annealing on electrical and photoelectrical properties of n-InSb
за авторством: Stariy, S.V., та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Stariy, S.V., та інші
Опубліковано: (2017)
Thermal stability of high-deformed nonmetallic crystals under static annealing
за авторством: G. S. Olejnik, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: G. S. Olejnik, та інші
Опубліковано: (2016)
The influence of thermal cycles work on degradation of heat-resistant steel properties
за авторством: P. O. Marushchak, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: P. O. Marushchak, та інші
Опубліковано: (2010)
Thermal annealing and evolution of defects in neutron-irradiated cubic SiC
за авторством: Bratus, V.Ya., та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Bratus, V.Ya., та інші
Опубліковано: (2015)
Influence of pulse thermal annealing on photoelectrical properties of locally grown polycrystalline silicon films
за авторством: Mamikonova, V.M., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Mamikonova, V.M., та інші
Опубліковано: (1999)
Thermal annealing and evolution of defects in neutron-irradiated cubic SiC
за авторством: Ya. Bratus, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Ya. Bratus, та інші
Опубліковано: (2015)
Effect of pressure on the characteristics of Schottky barrier diodes made of overcompensated semiconductor
за авторством: S. I. Vlasov, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: S. I. Vlasov, та інші
Опубліковано: (2010)
Effect of pressure on the characteristics of Schottky barrier diodes made of overcompensated semiconductor
за авторством: Vlasov, S.I., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Vlasov, S.I., та інші
Опубліковано: (2010)
The effect of thermal annealing on linear and nonlinear optical response of dyed KDP crystals
за авторством: Pritula, I., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Pritula, I., та інші
Опубліковано: (2008)
Formation of ickel-platinum silicide layer as a barrier Schottky diodes
за авторством: P. V. Kuchinskij, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: P. V. Kuchinskij, та інші
Опубліковано: (2014)
Investigation of b-cyclodextrin peroxides' thermal degradation by pyrolysis mass spectrometry
за авторством: V. V. Boiko, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. V. Boiko, та інші
Опубліковано: (2016)
Ellipsometric evidence of CoSi₂ formation in Co/Si multilayer induced by thermal annealing
за авторством: Kudryavtsev, Y.V., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Kudryavtsev, Y.V., та інші
Опубліковано: (2005)
Photoresponse of Schottky-barrier detector under strong IR laser excitation
за авторством: Asmontas, S., та інші
Опубліковано: (2000)
за авторством: Asmontas, S., та інші
Опубліковано: (2000)
Thin Film Detector CdTe Structures with Schottky Barrier
за авторством: Sh. A. Mirsagatov, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Sh. A. Mirsagatov, та інші
Опубліковано: (2013)
Effect of thermal annealing on the luminescent characteristics of CdSe/ZnSe quantum dot heterostructure
за авторством: L. V. Borkovska, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: L. V. Borkovska, та інші
Опубліковано: (2010)
Effect of thermal annealing on the luminescent characteristics of CdSe/ZnSe quantum dot heterostructure
за авторством: Borkovska, L.V., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Borkovska, L.V., та інші
Опубліковано: (2010)
Thin dysprosium oxide films formed by rapid thermal annealing on porous SiC substrates
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2018)
Thin dysprosium oxide films formed by rapid thermal annealing on porous SiC substrates
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
Active region of CdTe X-/γ-ray detector with Schottky diode
за авторством: Kosyachenko, L.A., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Kosyachenko, L.A., та інші
Опубліковано: (2005)
Theoretical evaluation of the temperature field distribution in the silicon periodic nanostructures during thermal annealing
за авторством: O. O. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: O. O. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2017)
Схожі ресурси
-
Lateral photo-emf in Schottky contact
за авторством: E. F. Venger, та інші
Опубліковано: (2010) -
Lateral photo-emf in a nonuniform Schottky contact
за авторством: E. F. Venger, та інші
Опубліковано: (2011) -
Effect of rapid thermal annealing on properties of contacts Au-Mo-TiBx-GaAs
за авторством: Venger, E.F., та інші
Опубліковано: (1999) -
Schottky-barrier Au–TiBx–n-GaN contacts
за авторством: Ya. Kudryk
Опубліковано: (2015) -
Model studies of degradation mechanisms of thermoelectric materials and near-contact structures
за авторством: L. I. Anatychuk, та інші
Опубліковано: (2017)