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Schottky contact degradation at thermal annealing

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2012
Hauptverfasser:	E. F. Venger, I. Gotovy, L. V. Shekhovtsov
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2012
Schriftenreihe:	Optoelectronics and Semiconductor Technique
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001287281
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